成型透镜
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101109827A

    公开(公告)日:2008-01-23

    申请号:CN200710137066.5

    申请日:2007-07-19

    IPC分类号: G02B3/00 G02B13/00

    摘要: 本发明公开一种成型透镜,其中从半导体激光光源(1)射的激光沿光轴Z方向透过封盖玻璃(2),并以发散光的状态入射到成形透镜(4),并借助于该成形透镜(4)而成为会聚光,从而照射到光记录介质的记录面(5)上。另外,配置有光阑(3),由该光阑(3)所限制的激光光阑所照射的透镜面上的区域是透镜面的有效区域。若将作为其直径的透镜面的有效直径设为d0,将将透镜面的外径设为d1时,其中一方的透镜面中,满足下述条件式(1):0.04mm≤d1-d0...(1)。从而,能够实现:即使在极为小直径的透镜中,也能够使透镜有效区域的周边部的光学性能良好,能够谋求透镜面的小直径化。

    物镜、光拾取装置、光记录/再现装置

    公开(公告)号:CN101581824A

    公开(公告)日:2009-11-18

    申请号:CN200910141264.8

    申请日:2009-05-14

    IPC分类号: G02B13/00 G11B7/135

    CPC分类号: G02B3/04 G11B7/1374

    摘要: 本发明提供一种物镜,该物镜具有充分的工作距离且谋求轻量化。该物镜由至少1个面被设为非球面的单透镜构成,且该物镜将从光源射出的光会聚在进行信息的记录或再现的光记录介质上,并满足下述条件式(1)~(3):N≤1.75(1);0.5<f/f1<0.6(2);0.8<d/(NA·De)<1.0(3)。此处,N:折射率,f:焦距(mm),f1:光源侧的面的焦距(mm),d:光轴上的厚度(mm),NA:光记录介质侧的数值孔径,De:光源侧的面的有效直径(mm)。

    物镜、光拾取装置、光记录介质记录及/或再生装置

    公开(公告)号:CN101452112A

    公开(公告)日:2009-06-10

    申请号:CN200810181251.9

    申请日:2008-11-18

    IPC分类号: G02B13/00 G02B13/18 G11B7/135

    CPC分类号: G02B27/0031 G11B7/1374

    摘要: 本发明提供一种物镜、具备此物镜的光拾取装置、及装载此光拾取装置的光记录介质记录及/或再生装置,即使在对光记录介质进行信息的记录或再生的物镜被用作在光记录层上可聚束短波长光的单透镜高NA透镜时,可使球面像差及像高特性为良好,可良好地谋求透镜轻量化及作动距离的确保。物镜(8)由单透镜而成,光源侧的面(8a)被设为大曲率的凸面,光记录介质侧的面(8b)被设为小曲率的面,两面皆由非球面而成。而且,满足式(1)~(3)。0.7<NA<0.98 (1);0.70<d/f<1.40 (2);0.48<X<0.55 (3)。此处,NA:物镜(8)的光记录介质侧的数值孔径,d:物镜(8)的光轴上的厚度(mm),f:物镜(8)的焦距(mm)。并且,X:(X1-X2)·(n-1)/(NA·f),X1、X2为关于各面的下垂量的值,n为折射率。

    光记录介质用物镜的检查方法

    公开(公告)号:CN101840712B

    公开(公告)日:2012-02-29

    申请号:CN201010105914.6

    申请日:2010-01-25

    发明人: 胜间敏明

    IPC分类号: G11B7/1374 G01M11/02

    摘要: 本发明提供一种光记录介质用物镜的检查方法,该光记录介质用物镜的检查方法在设计温度和检查温度不同时,更加公正地辨别物镜的好坏。该检查方法检查将第1温度作为设计温度而设计出的塑料制的光记录介质用物镜,包括:第1工序,求出在与第1温度不同的第2温度中的物镜的形状及折射率;第2工序,决定计算用平行平板的厚度,以便由具有在第2温度中的形状及折射率的物镜和与检查用平行平板相同的材质且具有在第2温度中的折射率的计算用平行平板构成的光学系统的像差变为最小;第3工序,利用与在第2工序中决定的计算用平行平板的厚度相同的厚度的检查用平行平板,在第2温度中检查根据设计所制作的物镜。

    光记录介质用物镜的检查方法

    公开(公告)号:CN101840712A

    公开(公告)日:2010-09-22

    申请号:CN201010105914.6

    申请日:2010-01-25

    发明人: 胜间敏明

    IPC分类号: G11B7/135 G01M11/02

    摘要: 本发明提供一种光记录介质用物镜的检查方法,该光记录介质用物镜的检查方法在设计温度和检查温度不同时,更加公正地辨别物镜的好坏。该检查方法检查将第1温度作为设计温度而设计出的塑料制的光记录介质用物镜,包括:第1工序,求出在与第1温度不同的第2温度中的物镜的形状及折射率;第2工序,决定计算用平行平板的厚度,以便由具有在第2温度中的形状及折射率的物镜和与检查用平行平板相同的材质且具有在第2温度中的折射率的计算用平行平板构成的光学系统的像差变为最小;第3工序,利用与在第2工序中决定的计算用平行平板的厚度相同的厚度的检查用平行平板,在第2温度中检查根据设计所制作的物镜。

    成型透镜
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100516936C

    公开(公告)日:2009-07-22

    申请号:CN200710137066.5

    申请日:2007-07-19

    IPC分类号: G02B3/00 G02B13/00

    摘要: 本发明公开一种成型透镜,其中从半导体激光光源(1)射的激光沿光轴Z方向透过封盖玻璃(2),并以发散光的状态入射到成形透镜(4),并借助于该成形透镜(4)而成为会聚光,从而照射到光记录介质的记录面(5)上。另外,配置有光阑(3),由该光阑(3)所限制的激光光阑所照射的透镜面上的区域是透镜面的有效区域。若将作为其直径的透镜面的有效直径设为d0,将透镜面的外径设为d1时,其中一方的透镜面中,满足下述条件式(1):0.04mm≤d1-d0…(1)从而,能够实现:即使在极为小直径的透镜中,也能够使透镜有效区域的周边部的光学性能良好,能够谋求透镜面的小直径化。

    物镜、光拾取装置、光记录/再现装置

    公开(公告)号:CN101581824B

    公开(公告)日:2011-03-09

    申请号:CN200910141264.8

    申请日:2009-05-14

    IPC分类号: G02B13/00 G11B7/135

    CPC分类号: G02B3/04 G11B7/1374

    摘要: 本发明提供一种物镜,该物镜具有充分的工作距离且谋求轻量化。该物镜由至少1个面被设为非球面的单透镜构成,且该物镜将从光源射出的光会聚在进行信息的记录或再现的光记录介质上,并满足下述条件式(1)~(3):N≤1.75(1);0.5<f/f1<0.6(2);0.8<d/(NA·De)<1.0(3)。此处,N:折射率,f:焦距(mm),f1:光源侧的面的焦距(mm),d:光轴上的厚度(mm),NA:光记录介质侧的数值孔径,De:光源侧的面的有效直径(mm)。

    物镜、光拾取装置、光记录介质记录及/或再生装置

    公开(公告)号:CN101452111A

    公开(公告)日:2009-06-10

    申请号:CN200810181250.4

    申请日:2008-11-18

    IPC分类号: G02B13/00 G02B13/18 G11B7/135

    CPC分类号: G11B7/1374

    摘要: 本发明提供一种物镜、光拾取装置、光记录介质记录及/或再生装置,可使像高特性为良好,可良好地谋求透镜的轻量化及作动距离的确保的同时,在不损坏透镜设计的自由度下确保光拾取装置的稳定的动作。物镜(8)由单透镜而成,光源侧的面(8a)被设为大曲率的凸面,光记录介质侧的面(8b)被设为小曲率的面,两面皆由非球面而成。而且,满足式(1)~(3)。0.70<NA<0.98 (1);0.70<d/f<3.00 (2);0.50<g/d<0.80 (3)。此处,NA:物镜(8)的光记录介质侧的数值孔径,d:物镜(8)的光轴上的厚度(mm),f:物镜(8)的焦距(mm),g:垂直于光轴、从光源侧的面(8a)的顶点的切平面到物镜重心位置(G)的距离(mm)。