公开(公告)号：CN113167691B

公开(公告)日：2024-07-02

申请号：CN201980072891.2

申请日：2019-09-10

Applicant: 富鲁达加拿大公司

Inventor： 达夫·桑德奎基尔 ,  亚历山大·洛博达 ,  阿达姆·卡鲁 ,  克哈莎亚尔·阿斯卡尔普尔

IPC: G01N1/04 ,  G02B21/00 ,  H01J49/04 ,  H01J49/10

Abstract: 本发明涉及用于在成像质谱法中自动聚焦的系统和方法。本发明通过在自动聚焦系统中包含多个孔径(诸如二维布置地多个孔径)而提供对当前IMS和IMG设备和方法的改进。由于从穿过一个或多个孔径的照明辐射测量在样本上的聚焦失败时，在自动聚焦系统中使用多个孔径提供了冗余，因此减少了不成功自动聚焦尝试的次数。

公开(公告)号：CN113167691A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN201980072891.2

申请日：2019-09-10

Applicant: 富鲁达加拿大公司

Inventor： 达夫·桑德奎基尔 ,  亚历山大·洛博达 ,  阿达姆·卡鲁 ,  克哈莎亚尔·阿斯卡尔普尔

IPC: G01N1/04 ,  G02B21/00 ,  H01J49/04 ,  H01J49/10

Abstract: 本发明涉及用于在成像质谱法中自动聚焦的系统和方法。本发明通过在自动聚焦系统中包含多个孔径(诸如二维布置地多个孔径)而提供对当前IMS和IMG设备和方法的改进。由于从穿过一个或多个孔径的照明辐射测量在样本上的聚焦失败时，在自动聚焦系统中使用多个孔径提供了冗余，因此减少了不成功自动聚焦尝试的次数。

公开(公告)号：CN118837275A

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202410803329.5

申请日：2019-09-10

Applicant: 富鲁达加拿大公司

Inventor： 达夫·桑德奎基尔 ,  亚历山大·洛博达 ,  阿达姆·卡鲁 ,  克哈莎亚尔·阿斯卡尔普尔

IPC: G01N15/10 ,  G01N27/64 ,  G02B21/00 ,  H01J49/04 ,  H01J49/10

Abstract: 本发明涉及自动聚焦样本成像的设备、方法、系统和计算机程序产品。本发明通过在自动聚焦系统中包含多个孔径(诸如二维布置地多个孔径)而提供对当前IMS和IMG设备和方法的改进。由于从穿过一个或多个孔径的照明辐射测量在样本上的聚焦失败时，在自动聚焦系统中使用多个孔径提供了冗余，因此减少了不成功自动聚焦尝试的次数。