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公开(公告)号：CN116935904A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310838833.4
申请日：2023-07-10
申请人： 山东华芯半导体有限公司
摘要： 本发明提供了一种固态存储设备温控方法，包括多CPU核心架构的固态硬盘主控芯片，前端核Core0周期性采样固态硬盘盘各部位传感器温度值，并计算复合温度，将复合温度发送给辅助核mCore4；后端核Core2、Core3实时采集各自的工作中逻辑单元号数量，并反馈给辅助核mCore4；辅助核mCore4对采样数据做累加和平均，并检测复合温度是否超过条件阈值，若超过阈值，则根据实际负载水平和温度档位调整逻辑单元号最大并发数限值；后端核Core2、Core3从辅助核mCore4上得到并发数限值，调整闪存控制器。本发明节省算力提高输入输出性能，确保在限制固态硬盘温度、功耗的同时不损失过多的性能，保证最大逻辑单元号并发数计算结果的准确性和实时性。
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公开(公告)号：CN111538579B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202010326392.6
申请日：2020-04-23
申请人： 山东华芯半导体有限公司
摘要： 本发明公开一种嵌入式平台下的多任务运行方法，本方法在内存中为每一个任务分配独立的栈空间，使各个任务运行过程互不干扰；某一任务占用CPU运行时，该任务的运行信息写入CPU寄存器中，其他任务的运行信息存入对应的栈中；运行中的任务通过主动暂停运行或者被动暂停运行的方式实现随时暂停并切换至其他任务，切换任务时，将CPU存储器的值写入被暂停业务对应的栈中，保存被暂停任务的运行状态，然后选取下一项需要运行的任务，将被选取任务对应栈中的数据填入CPU寄存器中，使下一项任务在先前任务暂停的位置上继续运行。本发明能在使用较少的处理器资源的情况下实现多任务并行处理。
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公开(公告)号：CN114023373B
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202111317696.7
申请日：2021-11-09
申请人： 山东华芯半导体有限公司
摘要： 本发明涉及数据传输检测领域，针对NAND flash数据传输中会产生错误的问题，提出了一种可以排除NAND flash自身存储产生错误的测试方法，即首先遍历设定范围内的DQS delay值，并利用NAND flash的寄存器读写操作比较写入与读出的数据，将差异值进行记录，最后通过对差异值的检查结果判定，实现验证NAND flash数据通路是否会产生错误的测试方法。
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公开(公告)号：CN117420952A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311277115.0
申请日：2023-09-28
申请人： 山东华芯半导体有限公司
IPC分类号： G06F3/06
摘要： 本发明提供了一种基于软件管理LUN方案框架下的Nand Flash异步多Plane独立读(AIPR)命令的实现方法和数据结构，将LUN管理框架中每个Channel上下文管理块中的LUN控制块数量按照Nand Flash颗粒每个LUN具有的Plane数进行倍数扩充，并将其含义改成Plane控制块；在Channel上下文管理块数据结构中添加数组类型的属性成员Plane状态位图和LUN AIPR模式标记，依次进行读取新命令是AIPR的判断和处理流程，以解决硬件Nand Flash控制器不支持AIPR功能或支持该特性时使用限制条件较多影响效率的问题。本方法能够增加固态存储设备(SSD)Single Plane读命令并发度(针对具备AIPR功能的Nand Flash)，并因此提高4K随机读命令的IOPS性能。
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公开(公告)号：CN115826864A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211565634.2
申请日：2022-12-07
申请人： 山东华芯半导体有限公司
摘要： 本发明公开一种提升小容量ssd随机读性能的方法，本方法使用nand提供的aipr命令替换普通的读命令，将nand最基本的操作单元lun细化为plane，lun中的每个plane互相独立，并行执行aipr命令；使用aipr命令后，将ftl模块发送的single plane read命令转换成aipr命令，将ftl模块发送的multi plane read命令拆分成多条aipr命令执行。本发明能够提高带宽利用率，提升随机读性能。
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公开(公告)号：CN115440294A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202211060962.7
申请日：2022-09-01
申请人： 山东华芯半导体有限公司
IPC分类号： G11C29/56
摘要： 本发明公开一种NAND Flash控制器多命令混合测试方法，可任意调整各种类命令所占权重，实际运行时各命令出现的概率也与预设权重值基本相符，解决传统测试方法每次仅对单一命令类型进行测试，且参数修改不够灵活，无法模拟复杂真实的固件应用环境下多种命令之间的相互作用的问题。通过TLC/SLC可用块分组、命令挂起列表、已写满的块列表实现测试范围内存储块的动态管理机制，便于自动化脚本进行长时间测试，减少了测试人员的维护成本。数据校验为即时进行，且采用总体随机、关键位置插入特殊检测点的样本数据，兼顾了准确性和运行效率。
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公开(公告)号：CN115509206B
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202211197160.0
申请日：2022-09-29
申请人： 山东华芯半导体有限公司
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 本发明提供了一种NAND控制器芯片测试方法，进行功能项组合测试时采用随机选取NAND控制器的方式进行，即每测试一组功能组合，均在重新随机选取的NAND控制器上进行，直至所有功能组合均遍历完成。本发明测试时利用了芯片中所有NAND控制器模块的结构功能均相同这一特点，采用随机选择NAND控制器的思路使测试时间成倍减少，且芯片中集成的控制器数量越庞大，效果越明显。
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公开(公告)号：CN117472561A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311145846.X
申请日：2023-09-07
申请人： 山东华芯半导体有限公司
摘要： 本发明涉及处理器技术领域，本发明设有主控核、从属核、任务数据记录模块、任务队列以及调度交互区域，通过在C语言main函数中调用运行函数，可实现多任务并行。本发明解决了目前公知技术中的嵌入式平台多任务处理方法无法适用多核处理器的问题，本发明提供的方法操作简单、代码数量少，渐变易行，同时还针对嵌入式系统运行环境相对封闭的特点进行了优化。
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公开(公告)号：CN115509206A
公开(公告)日：2022-12-23
申请号：CN202211197160.0
申请日：2022-09-29
申请人： 山东华芯半导体有限公司
IPC分类号： G05B23/02
摘要： 本发明提供了一种NAND控制器芯片测试方法，进行功能项组合测试时采用随机选取NAND控制器的方式进行，即每测试一组功能组合，均在重新随机选取的NAND控制器上进行，直至所有功能组合均遍历完成。本发明测试时利用了芯片中所有NAND控制器模块的结构功能均相同这一特点，采用随机选择NAND控制器的思路使测试时间成倍减少，且芯片中集成的控制器数量越庞大，效果越明显。
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公开(公告)号：CN113823350B
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202111116602.X
申请日：2021-09-23
申请人： 山东华芯半导体有限公司
IPC分类号： G11C29/56
摘要： 本发明公开一种固态存储设备坏块表的生成与维护方法，本方法通过以文本形式记录坏块条目并配合脚本解析生成Bin文件的方式，可更容易地实现坏块表的离线维护，当SSD实际使用过程中发现不稳定、性能变弱的Flash存储块但固件未能将其识别为坏块时，如果经人工分析能确定其为坏块，可通过该方法直观、方便地手动新增坏块条目进行维护。此外，导出坏块表到上位机的过程中，通过对比直接输出的Bin文件和根据记录文本解析生成的Bin文件，可确保扫描结果的正确性和稳定性，避免缺失遗漏。
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