空心电抗器内部导体绝缘异常和质量缺陷的检验方法

    公开(公告)号:CN104865510A

    公开(公告)日:2015-08-26

    申请号:CN201510326824.2

    申请日:2015-06-15

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明公开了一种空心电抗器内部导体绝缘异常和质量缺陷的检验方法,该方法通过对干式空心电抗器进行局部放电测量,记录产生初始局放时的电压值和局放值,通过比对无异常电磁线绕制出电抗器产生局放时的电压值和局放值,根据差异得出干式空心电抗器内部导体是否存在绝缘异常和质量缺陷。本方法可对空心电抗器生产完毕后,对内部导体的绝缘异常和质量缺陷进行有效检测,保证空心电抗器的产品质量。

    空心电抗器内部导体绝缘异常和质量缺陷的检验方法

    公开(公告)号:CN104865510B

    公开(公告)日:2017-10-17

    申请号:CN201510326824.2

    申请日:2015-06-15

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明公开了一种空心电抗器内部导体绝缘异常和质量缺陷的检验方法,该方法通过对干式空心电抗器进行局部放电测量,记录产生初始局放时的电压值和局放值,通过比对无异常电磁线绕制出电抗器产生局放时的电压值和局放值,根据差异得出干式空心电抗器内部导体是否存在绝缘异常和质量缺陷。本方法可对空心电抗器生产完毕后,对内部导体的绝缘异常和质量缺陷进行有效检测,保证空心电抗器的产品质量。