一种采用PVT法接续生长高质量AlN晶体的方法及装置

    公开(公告)号:CN115198371B

    公开(公告)日:2022-12-02

    申请号:CN202211136736.2

    申请日:2022-09-19

    IPC分类号: C30B29/40 C30B23/00

    摘要: 本发明涉及AlN晶体制备技术领域,具体涉及一种采用PVT法接续生长高质量AlN晶体的方法及装置。该方法首先将AlN粉末放入金属坩埚中,将金属坩埚置于石英腔室内的石墨坩埚中;然后将金属坩埚抽真空,通过顶部线圈和底部线圈使金属坩埚内达到AlN晶体生长温度,在金属坩埚内部钨网或钨柱处得到独立沿N面生长AlN独立籽晶;逐渐调整顶部线圈和底部线圈功率,最后在钨网或钨柱处获得大尺寸的高质量AlN晶体。本发明通过晶体生长腔室底部和顶部温度反转的接续生长工艺,极大程度减少非晶体生长时间,有效延缓石墨毡、石墨坩埚及钨坩埚等耗材使用寿命,与此同时,减少装卸料时间,降低时间及人力成本,提高晶体有效生长时间。本发明主要应用于半导体器件方面。

    一种采用PVT法接续生长高质量AlN晶体的方法及装置

    公开(公告)号:CN115198371A

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202211136736.2

    申请日:2022-09-19

    IPC分类号: C30B29/40 C30B23/00

    摘要: 本发明涉及AlN晶体制备技术领域,具体涉及一种采用PVT法接续生长高质量AlN晶体的方法及装置。该方法首先将AlN粉末放入金属坩埚中,将金属坩埚置于石英腔室内的石墨坩埚中;然后将金属坩埚抽真空,通过顶部线圈和底部线圈使金属坩埚内达到AlN晶体生长温度,在金属坩埚内部钨网或钨柱处得到独立沿N面生长AlN独立籽晶;逐渐调整顶部线圈和底部线圈功率,最后在钨网或钨柱处获得大尺寸的高质量AlN晶体。本发明通过晶体生长腔室底部和顶部温度反转的接续生长工艺,极大程度减少非晶体生长时间,有效延缓石墨毡、石墨坩埚及钨坩埚等耗材使用寿命,与此同时,减少装卸料时间,降低时间及人力成本,提高晶体有效生长时间。本发明主要应用于半导体器件方面。

    一种有效提升半导体外延材料均匀性的方法

    公开(公告)号:CN117230528B

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202311517535.1

    申请日:2023-11-15

    摘要: 本发明属于半导体材料技术领域,具体涉及一种有效提升半导体外延材料均匀性的方法,包括下列步骤:将蓝宝石衬底放入磁控溅射设备中,然后进行多次AlN溅射补长工艺,所述多次AlN溅射补长工艺包括第一次溅射、第二次溅射和第三次溅射;将未经溅射蓝宝石衬底置于石墨盘片槽内,在石墨盘矫正槽内放入高反射钨片,在石墨盘边缘放入内空阻流环,运行矫正生长配方,根据高反射钨片炉次间温度差,调整生长配方温度,进行修正补偿;将AlN模板放入石墨盘片槽内,在石墨盘边缘放入阻流环,运行经过矫正生长配方,进行AlN薄膜生长。本发明通过多次AlN溅射补长工艺,为外延AlN薄膜的炉次间生长提供了可靠、稳定、优质的溅射AlN衬底。

    一种有效提升半导体外延材料均匀性的方法

    公开(公告)号:CN117230528A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202311517535.1

    申请日:2023-11-15

    摘要: 本发明属于半导体材料技术领域,具体涉及一种有效提升半导体外延材料均匀性的方法,包括下列步骤:将蓝宝石衬底放入磁控溅射设备中,然后进行多次AlN溅射补长工艺,所述多次AlN溅射补长工艺包括第一次溅射、第二次溅射和第三次溅射;将未经溅射蓝宝石衬底置于石墨盘片槽内,在石墨盘矫正槽内放入高反射钨片,在石墨盘边缘放入内空阻流环,运行矫正生长配方,根据高反射钨片炉次间温度差,调整生长配方温度,进行修正补偿;将AlN模板放入石墨盘片槽内,在石墨盘边缘放入阻流环,运行经过矫正生长配方,进行AlN薄膜生长。本发明通过多次AlN溅射补长工艺,为外延AlN薄膜的炉次间生长提供了可靠、稳定、优质的溅射AlN衬底。