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公开(公告)号：CN104006898B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201410268532.3
申请日：2014-06-16
申请人： 常州工学院
摘要： 本发明公开了一种用加权宽度表征GaN基LED结温的方法，首先要对LED结温建立公式，小电流所产生的LED光源的自加热过程对结温影响较小，恒温器与LED光源之间的热阻较小，使用恒温器温度代替LED结温。测量不同恒温器温度下的加权宽度，建立加权宽度与结温的关系式。再根据公式及测量的工作条件下LED光源的加权宽度，便可方便的求出工作条件下LED的结温。本发明单次标定，多次测量。操作简单，仅需常规的光电测试装置。加权宽度容易准确测量，测量的可重复性高。不接触LED引脚。可以用于单颗LED结温测量，也可以用于多颗LED组成的阵列的平均结温测量，使用范围广。
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公开(公告)号：CN104019908A
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201410268725.9
申请日：2014-06-16
申请人： 常州工学院
IPC分类号： G01J5/60
摘要： 本发明公开了一种LED结温或LED阵列平均结温的测量方法，首先要对LED结温建立公式，小电流所产生的LED光源的自加热过程对结温影响较小，恒温器与LED光源之间的热阻较小，使用恒温器温度代替LED结温。测量不同恒温器温度下的质心波长，建立质心波长与结温的关系式。再根据公式及测量的工作条件下LED光源的质心波长，便可方便的求出工作条件下LED的结温。本发明单次标定，多次测量。操作简单，与峰值波长法，蓝白比法步骤相似。仅需常规的光电测试装置。质心波长测量的可重复性高，用于表征结温误差小。不接触LED引脚。可以用于单颗LED结温测量，也可以用于多颗LED组成的阵列的平均结温测量，使用范围广。
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公开(公告)号：CN104006898A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410268532.3
申请日：2014-06-16
申请人： 常州工学院
摘要： 本发明公开了一种用加权宽度表征GaN基LED结温的方法，首先要对LED结温建立公式，小电流所产生的LED光源的自加热过程对结温影响较小，恒温器与LED光源之间的热阻较小，使用恒温器温度代替LED结温。测量不同恒温器温度下的加权宽度，建立加权宽度与结温的关系式。再根据公式及测量的工作条件下LED光源的加权宽度，便可方便的求出工作条件下LED的结温。本发明单次标定，多次测量。操作简单，仅需常规的光电测试装置。加权宽度容易准确测量，测量的可重复性高。不接触LED引脚。可以用于单颗LED结温测量，也可以用于多颗LED组成的阵列的平均结温测量，使用范围广。
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