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公开(公告)号：CN103267588B
公开(公告)日：2015-04-01
申请号：CN201310221606.3
申请日：2013-06-05
申请人： 常州工学院
IPC分类号： G01K11/00
摘要： 本发明公开了一种基于LED相对光谱随温度变化的结温测试装置及其方法，属于LED光电检测领域。本发明的一种基于LED相对光谱随温度变化的结温测试装置及其方法，主要包括驱动电源、恒温器、积分球仪、光谱分析仪，根据LED结温与相对光谱之间存在相关性的原理，一方面通过恒温器控制待测LED的温度，并利用小电流驱动待测LED发光；另一方面，通过光谱分析仪采集待测LED的相对光谱，并采用不同温度下的相对光谱与参考相对光谱围成的面积为结温表征参数，通过拟合得到结温表征参数与LED结温的关系公式。本发明的主要用途是提供一种测量更加准确、可靠、方便，且简单、实用、廉价的LED结温检测装置及其方法。
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公开(公告)号：CN104316215B
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201410629774.0
申请日：2014-11-10
申请人： 常州工学院
IPC分类号： G01K11/00
摘要： 本发明公开了一种用电桥测量LED结温的装置及其方法。该装置包括电源E和由可变电阻R1、可变电阻R2、可变电阻R3、LED组成的惠更斯电桥，还包括快速转换开关S1和S‘1，电桥导通与否受开关S1控制，LED通过开关S‘1与工作电源相连，在电桥中间还连接有直流电压放大器。该方法包括K的标定和工作电流下LED的结温测量过程。本发明不要求准确测量10‑5秒内LED两端电压，只需观察电压比较器示数是否为零，精确程度取决于电压比较器的灵敏度，只要合理选择电压比较器，可以避免电压脉冲等误差的影响；本发明可以测量交流、脉冲等等任何形式的工作电流下LED的结温，适应性强；本发明可以通过增加测试时间，有效的控制结温测量的误差。
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公开(公告)号：CN104316215A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410629774.0
申请日：2014-11-10
申请人： 常州工学院
IPC分类号： G01K11/00
摘要： 本发明公开了一种用电桥测量LED结温的装置及其方法。该装置包括电源E和由可变电阻R1、可变电阻R2、可变电阻R3、LED组成的惠更斯电桥，还包括快速转换开关S1和S‘1，电桥导通与否受开关S1控制，LED通过开关S‘1与工作电源相连，在电桥中间还连接有直流电压放大器。该方法包括K的标定和工作电流下LED的结温测量过程。本发明不要求准确测量10-5秒内LED两端电压，只需观察电压比较器示数是否为零，精确程度取决于电压比较器的灵敏度，只要合理选择电压比较器，可以避免电压脉冲等误差的影响；本发明可以测量交流、脉冲等等任何形式的工作电流下LED的结温，适应性强；本发明可以通过增加测试时间，有效的控制结温测量的误差。
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公开(公告)号：CN103267588A
公开(公告)日：2013-08-28
申请号：CN201310221606.3
申请日：2013-06-05
申请人： 常州工学院
IPC分类号： G01K11/00
摘要： 本发明公开了一种基于LED相对光谱随温度变化的结温测试装置及其方法，属于LED光电检测领域。本发明的一种基于LED相对光谱随温度变化的结温测试装置及其方法，主要包括驱动电源、恒温器、积分球仪、光谱分析仪，根据LED结温与相对光谱之间存在相关性的原理，一方面通过恒温器控制待测LED的温度，并利用小电流驱动待测LED发光；另一方面，通过光谱分析仪采集待测LED的相对光谱，并采用不同温度下的相对光谱与参考相对光谱围成的面积为结温表征参数，通过拟合得到结温表征参数与LED结温的关系公式。本发明的主要用途是提供一种测量更加准确、可靠、方便，且简单、实用、廉价的LED结温检测装置及其方法。
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