一种盘形悬式瓷绝缘子视觉检测方法

    公开(公告)号:CN107179323A

    公开(公告)日:2017-09-19

    申请号:CN201710610879.5

    申请日:2017-07-25

    Abstract: 本发明公开了一种盘形悬式瓷绝缘子视觉检测方法,其步骤为:1)建立各类瑕疵的特征库;2)对每类瑕疵的特征库内特征数值范围进行确定,进而对该类瑕疵再进行细分,建立更为详细的瑕疵参照数据库,以便能够判断是哪类瑕疵的何种状态;3)判断待检测瓷绝缘子是否在检测位置;4)对采集到的图像数据进行图像处理;5)利用阈值分割的原理对经步骤4)处理后得到的待处理分析的图像进行处理分析,并将处理分析得到的结果与步骤2)中建立的瑕疵参照数据库进行逐一对比,若有相匹配的,则发出瓷绝缘子不合格信号,若无,则发出瓷绝缘子合格信号。本发明操作方便,大大减小了劳动强度,提高了检测工作效率,并且对于瓷绝缘子瑕疵检测精准。

    一种颗粒物的粒径检测方法

    公开(公告)号:CN112116649A

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN202011031993.0

    申请日:2020-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种颗粒物的粒径检测方法,包括:步骤1:对散开的颗粒物进行拍摄,并进行图像分析;步骤2:提取图像中的灰度值信号曲线;步骤3:一维连续小波变换;进行小波能量计算;绘制小波能量谱曲线;步骤4:重复步骤3,得到不同方向的小波能量谱曲线,并对不同方向的小波能量谱曲线进行叠加,得到随尺度变化的小波能量谱曲线;步骤5:对小波能量谱曲线进行归一化处理;步骤6:获得颗粒物的粒径值。本发明能够实现对卵石、砾石、砂粒等泥沙颗粒物中值粒径的快速、准确测量,且特别适合快速对重叠沙粒的粒径进行区间测量。

    一种盘形悬式瓷绝缘子视觉检测装置

    公开(公告)号:CN107271452B

    公开(公告)日:2019-11-29

    申请号:CN201710610695.9

    申请日:2017-07-25

    Abstract: 本发明公开了一种盘形悬式瓷绝缘子视觉检测装置,包括机架,机架的底板上设置有第一直线滑动机构,该第一直线滑动机构的滑动板上固设有用以支撑瓷绝缘子且保证瓷绝缘子中心线水平且垂直于第一直线滑动机构中滑动板滑动方向放置的瓷绝缘子支撑架;机架的底板上且沿着第一直线滑动机构中滑动板滑动方向设置有A工位和B工位,在A工位处对瓷绝缘子的凸起部和瓷绝缘子的内深凹部的表面进行图像采集分析工作,在B工位处对瓷绝缘子的折皱部表面进行图像采集分析工作。本发明能够实现全自动化工作,能够对瓷绝缘子进行无死角图像采集工作,利于检测工作,提高了绝缘子的检测精度和准确率,加快了绝缘子的检测效率。

    一种盘形悬式瓷绝缘子视觉检测装置

    公开(公告)号:CN107271452A

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201710610695.9

    申请日:2017-07-25

    Abstract: 本发明公开了一种盘形悬式瓷绝缘子视觉检测装置,包括机架,机架的底板上设置有第一直线滑动机构,该第一直线滑动机构的滑动板上固设有用以支撑瓷绝缘子且保证瓷绝缘子中心线水平且垂直于第一直线滑动机构中滑动板滑动方向放置的瓷绝缘子支撑架;机架的底板上且沿着第一直线滑动机构中滑动板滑动方向设置有A工位和B工位,在A工位处对瓷绝缘子的凸起部和瓷绝缘子的内深凹部的表面进行图像采集分析工作,在B工位处对瓷绝缘子的折皱部表面进行图像采集分析工作。本发明能够实现全自动化工作,能够对瓷绝缘子进行无死角图像采集工作,利于检测工作,提高了绝缘子的检测精度和准确率,加快了绝缘子的检测效率。

    一种高强散热的计算机显卡安装结构

    公开(公告)号:CN119356489A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411453757.6

    申请日:2024-10-17

    Abstract: 本发明涉及计算机显卡安装技术领域,且公开了一种高强散热的计算机显卡安装结构。该高强散热的计算机显卡安装结构,包括矩形壳与显卡主板,所述矩形壳的左侧嵌设有延伸至其内部的显卡主板,所述显卡主板底端的“金手指”延伸至矩形壳的下方,所述矩形壳的前后侧均开设有与之内部连通的阶梯槽,所述阶梯槽的表面均设有与之适配的密封垫圈,所述矩形壳的前后侧均设有与阶梯槽适配且与密封垫圈紧密接触的盖板,所述矩形壳的顶部固定连接有柱状筒,所述柱状筒的左侧固定连接有与之连通的敞口筒,该装置具备对显卡整体进行高强散热降温等优点,解决了现有技术中显卡整体依旧温度较高的问题。

    一种基于机器视觉的砂砾粒径检测方法

    公开(公告)号:CN116297052A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310378711.1

    申请日:2023-04-11

    Abstract: 本发明涉及一种基于机器视觉的砂砾粒径检测方法,将样品砂由进料仓进料,震动盘由震动电机驱动均匀布砂、匀速降落,样品砂进入暗箱,调节砂砾运动速度与相机行频完全匹配;线扫相机对砂砾粒径进行全方位图像采集,并辅助背投光源;线扫相机采集的图像传输至边缘计算设备,边缘计算设备连接软件显示屏,边缘计算设备融入粒径算法测量粒径,进而求出砂砾的粒径分布,砂砾测量结果由软件显示屏显示。本发明震动盘震动发生小位移,实现砂砾的均匀布砂、低速降落,线扫相机在采集砂砾时呈现最大面采集;对于任何样本砂粒都能够准确检测各个区间的砂粒数目,边缘计算设备融入粒径检测算法,提高检测效率及精度。

    一种基于差分镜像的Linux技能训练云平台构建方法

    公开(公告)号:CN114596180A

    公开(公告)日:2022-06-07

    申请号:CN202210241559.8

    申请日:2022-03-11

    Abstract: 本发明公开了一种基于差分镜像的Linux技能训练云平台构建方法。在虚拟机环境下安装Centos系统,创建相关快照和镜像文件;基于所述镜像文件,采用差分方式生成基础配置镜像、常规增补镜像;将基础镜像由服务端下发至客户端;采用组播方式将常规增补镜像下发至客户端,更新虚拟机状态;将基础镜像和增补镜像合并为整合镜像,基于P2P网络将整合镜像转发至网络中新加入的客户端;基于客户端的典型故障状态获取个体增补差分镜像,采用单播方式将其提交上传至服务端,服务端更新镜像状态库;按照实际需求,在服务端选择和切换相关镜像文件,下发至客户端,生成满足课程教学内容的虚拟机实训环境。

    一种股骨近端解剖型接骨板特征参数化设计方法

    公开(公告)号:CN112069629A

    公开(公告)日:2020-12-11

    申请号:CN202011098206.4

    申请日:2020-10-14

    Abstract: 本发明公开了一种股骨近端解剖型接骨板特征参数化设计方法。该方法包括:首先,构建个体完整骨骼近似模型;将主要骨折端复位至原有解剖位,构建个体骨折复位模型;然后,在复位模型折矢状面创建接骨板轮廓草图,并对草图特征参数化;将草图沿矢状面方向投影至复位模型外侧曲面;基于骨折位上下贴合面边界线蒙皮生成骨折位曲面,构建接骨板完整贴合面;将贴合面沿矢状面向外不等距拉升,生成接骨板实体模型,并对厚度特征参数化;最后,设计骨折位孔单元结构,在矢状面绘制骨折区域对应区域平铺单元阵列,构建骨折位多孔草图;基于多孔草图采用凹槽方式在接骨板实体模型中创建孔特征,特征实例化,创建和编辑解剖型接骨板实体模型。

    一种盘形悬式瓷绝缘子视觉检测方法

    公开(公告)号:CN107179323B

    公开(公告)日:2019-11-08

    申请号:CN201710610879.5

    申请日:2017-07-25

    Abstract: 本发明公开了一种盘形悬式瓷绝缘子视觉检测方法,其步骤为:1)建立各类瑕疵的特征库;2)对每类瑕疵的特征库内特征数值范围进行确定,进而对该类瑕疵再进行细分,建立更为详细的瑕疵参照数据库,以便能够判断是哪类瑕疵的何种状态;3)判断待检测瓷绝缘子是否在检测位置;4)对采集到的图像数据进行图像处理;5)利用阈值分割的原理对经步骤4)处理后得到的待处理分析的图像进行处理分析,并将处理分析得到的结果与步骤2)中建立的瑕疵参照数据库进行逐一对比,若有相匹配的,则发出瓷绝缘子不合格信号,若无,则发出瓷绝缘子合格信号。本发明操作方便,大大减小了劳动强度,提高了检测工作效率,并且对于瓷绝缘子瑕疵检测精准。

    一种砂砾粒径视觉检测装置

    公开(公告)号:CN220251675U

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN202320783142.4

    申请日:2023-04-11

    Abstract: 本实用新型涉及一种砂砾粒径视觉检测装置,包括支架、进料仓、震动平台、暗箱、背投光源、线扫相机和下料仓,所述震动平台设置在支架顶部,所述震动平台包括震动盘,所述震动盘倾斜0‑5°,所述进料仓设置在震动盘的最高点上方,所述暗箱设置在支架内,所述暗箱的上端连接震动盘的最低处,下端连接下料仓,所述线扫相机固定在支架内部,线扫相机对准暗箱,所述暗箱配有背投光源,所述线扫相机与背投光源位置相匹配。本实用新型震动盘震动发生小位移,实现砂砾的均匀布砂、低速降落,线扫相机在采集砂砾时呈现最大面采集;对于任何样本砂粒都能够准确检测各个区间的砂粒数目,边缘计算设备融入粒径检测算法,提高检测效率及精度。

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