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发明公开
缺陷检测方法和系统审中-实审

公开(公告)号：CN117392678A

公开(公告)日：2024-01-12

申请号：CN202311656832.4

申请日：2023-12-06

申请人： 常州微亿智造科技有限公司

发明人： 赵何 , 潘正颐 , 侯大为 , 孙环荣

IPC分类号： G06V20/70 , G06V10/46 , G06V10/764 , G06V10/30 , G06V10/80

摘要： 本发明提供了一种缺陷检测方法和系统，该方法包括：从图像数据集中选取预处理图像；提取待处理图像中的显著性区域，并获取可贴图区域；选取第一历史缺陷图像，并获取相应的第二标注文件；根据第二标注文件随机选取一个目标缺陷，并抠出相应的缺陷图和掩码图；在可贴图区域中选取目标区域放入掩码图，以及根据目标区域将缺陷图覆盖在预处理图像中的对应区域，获取相应的第一缺陷图像和第三标注文件；根据第三标注文件统计第一缺陷图像中的缺陷类别，按照缺陷大小依次存入第一寄存器中；对第一缺陷图像进行前向加噪处理以获取前向加噪图像，输入扩散生成模型以输出第一解噪图像；获取目标检测图像和相应的第四标注文件，对目标设备进行缺陷检测。