一种半导体材料弯曲测试设备
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118883309A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202411390866.8

    申请日:2024-10-08

    IPC分类号: G01N3/20 G01N3/02

    摘要: 本发明涉及检测装置技术领域,具体为一种半导体材料弯曲测试设备,包括操作箱,所述操作箱的前端转动连接有观察窗,所述操作箱的上端安装有校准机构,所述操作箱的上端校准机构的一侧安装有加湿机构,所述操作箱的内侧校准机构的下方安装有放置机构,所述操作箱的内侧放置机构的下方固定连接有挡板,所述挡板的内侧开设有两组相对称的收集槽,所述操作箱的内侧挡板的下方滑动连接有收集箱,所述操作箱的一侧安装有加热机构,通过第一电机驱动压板可以使压板进行四点弯曲检测和三点弯曲检测,使装置的实用性大大提高,并且减少了操作步骤,提高了工作效率,通过压板均为四边相同的矩形可以使下压的力更加均衡,避免了受力不均导致的操作不当。

    一种导电硅橡胶导电性能测试装置

    公开(公告)号:CN118534153A

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202411004144.4

    申请日:2024-07-25

    摘要: 本发明涉及导电硅橡胶导电性能测试技术领域,尤其涉及一种导电硅橡胶导电性能测试装置,包括测试台,测试台上连接固定设置有固定座,固定座上转动连接设置有调节机构,固定座上转动连接设置有管状硅橡胶驱动机构,固定座上滑动配合设置有管状硅橡胶预处理机构;测试台上安装有导电性测试仪,测试台上连接固定设置有导气管,导气管上滑动配合设置有支撑固定机构,在对管状导电硅橡胶在测试前,利用管状硅橡胶预处理机构,通过多个往复移动的海绵杆,能够实现对管状导电硅橡胶在测试前对其表面进行清洁处理,以确保电极能够良好地接触并避免表面污染对测试结果的影响。

    一种导电硅橡胶导电性能测试装置

    公开(公告)号:CN118534153B

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202411004144.4

    申请日:2024-07-25

    摘要: 本发明涉及导电硅橡胶导电性能测试技术领域,尤其涉及一种导电硅橡胶导电性能测试装置,包括测试台,测试台上连接固定设置有固定座,固定座上转动连接设置有调节机构,固定座上转动连接设置有管状硅橡胶驱动机构,固定座上滑动配合设置有管状硅橡胶预处理机构;测试台上安装有导电性测试仪,测试台上连接固定设置有导气管,导气管上滑动配合设置有支撑固定机构,在对管状导电硅橡胶在测试前,利用管状硅橡胶预处理机构,通过多个往复移动的海绵杆,能够实现对管状导电硅橡胶在测试前对其表面进行清洁处理,以确保电极能够良好地接触并避免表面污染对测试结果的影响。