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1.

发明授权
基于March算法的RAM检测方法有权

公开(公告)号：CN109887539B

公开(公告)日：2021-04-09

申请号：CN201910005392.3

申请日：2019-01-03

申请人： 广东博力威科技股份有限公司

发明人： 方伟鹏 , 吴齐 , 陈志军 , 梁志锋 , 肖峻文

IPC分类号： G11C29/56 , G11C29/42

摘要： 本发明公开了一种基于March算法的RAM检测方法，包括：MCU上电，完成系统初始化和外部设备参数配置；系统进入并判定ROM检测、RAM检测是否通过；如果否，则对MCU进行掉电；如果是，则配置Bq76930芯片信息和保护参数，并配置外部设备参数信息；读取两个Bq76930芯片信息，并判断是否超出设置的误差值；如果是，则关闭MOS管或熔断FUSE；如果否，则清零看门狗计数器，并进行其他检测；如果检测不正常，则关闭MOS管或熔断FUSE；如果检测正常，则打开MCU输出标志位，完成该检测。本发明采用March算法进行RAM检测，在进行RAM检测时，能够完成对RAM的检测，检测效率比较高，通过判断Bq76930芯片的故障率情况，能够保证存储器检测逻辑的数据完好率，降低数据存储故障。