一种绝对光栅尺测试平台及其测试方法

    公开(公告)号:CN103063239B

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201210589404.X

    申请日:2012-12-28

    IPC分类号: G01D5/26

    摘要: 本发明是一种绝对光栅尺测试平台。包括用于采集光栅条纹的CMOS传感器、光学聚焦镜、CMOS目镜、平行光源、光栅尺支架、双光栅条光栅尺、光栅尺支架、移动平台、直线滑轨、直线推进装置、步进电机、基座,其中步进电机、直线推进装置、直线滑轨组成直线运动系统,CMOS传感器、光学聚焦镜、CMOS目镜、平行光源和双光栅条光栅尺组成图像处理的采样系统。本发明提高了编码测量的精度和可靠性,可以实现精确定位。本发明的绝对光栅尺测试平台高精度、高控制性、高可靠性。本发明的测试方法提供了一种双编码条加光学放大的编码方法,且通过合理可靠的图像分析,加以闭环控制,使得光栅尺移动性、可靠性、精确性大幅度提升。

    一种绝对光栅尺测试平台及其测试方法

    公开(公告)号:CN103063239A

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201210589404.X

    申请日:2012-12-28

    IPC分类号: G01D5/26

    摘要: 本发明是一种绝对光栅尺测试平台。包括用于采集光栅条纹的COMS传感器、光学聚焦镜、COMS目镜、平行光源、光栅尺支架、双光栅条光栅尺、光栅尺支架、移动平台、直线滑轨、直线推进装置、步进电机、基座,其中步进电机、直线推进装置、直线滑轨组成直线运动系统,COMS传感器、光学聚焦镜、COMS目镜、平行光源和双光栅条光栅尺组成图像处理的采样系统。本发明提高了编码测量的精度和可靠性,可以实现精确定位。本发明的绝对光栅尺测试平台高精度、高控制性、高可靠性。本发明的测试方法提供了一种双编码条加光学放大的编码方法,且通过合理可靠的图像分析,加以闭环控制,使得光栅尺移动性、可靠性、精确性大幅度提升。

    一种绝对光栅尺测试平台

    公开(公告)号:CN203274764U

    公开(公告)日:2013-11-06

    申请号:CN201220745523.5

    申请日:2012-12-28

    IPC分类号: G01D5/26

    摘要: 本实用新型是一种绝对光栅尺测试平台。包括有用于采集光栅条纹的COMS传感器、光学聚焦镜、COMS目镜、平行光源、光栅尺支架、双光栅条光栅尺、光栅尺支架、移动平台、直线滑轨、直线推进装置、步进电机、基座,其中步进电机、直线推进装置、直线滑轨组成直线运动系统,COMS传感器、光学聚焦镜、COMS目镜、平行光源和双光栅条光栅尺组成图像处理的采样系统。本实用新型提高了编码测量的精度和可靠性,可以实现精确定位。本实用新型的绝对光栅尺测试平台高精度、高控制性、高可靠性。本实用新型通过双编码条加光学放大的结构,且通过合理可靠的图像分析,加以闭环控制,使得光栅尺移动性、可靠性、精确性大幅度提升。