一种O形密封圈的老化试验装置及老化试验方法

    公开(公告)号:CN113588257B

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202110673769.X

    申请日:2021-06-17

    IPC分类号: G01M13/005

    摘要: 本发明公开了一种O形密封圈的老化试验装置及老化试验方法,所述O形密封圈的老化试验装置包括气阀、气压表、法兰顶盖、至少一个法兰盘和法兰底盖;法兰盘和法兰底盖均设有安装O形密封圈的O形槽,且O形槽中开设有多个贯通气孔,贯通气孔用于使老化的背景气体与O形密封圈充分接触;法兰顶盖的中心开设有贯通孔,气阀通过贯通孔安装于法兰顶盖的顶部,且气阀的侧面开设有贯通孔,气压表通过贯通孔与所述气阀连接;法兰顶盖、法兰盘和法兰底盖从上到下依次可拆卸连接。本发明结构简单、操作方便,能够增大O形密封圈与老化所使用的背景气体的接触面积,使O形密封圈与背景气体充分接触,从而提高加速效率,实现高效、快速、精准的老化试验。

    绝缘气体的绝缘性能分析方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN113608079A

    公开(公告)日:2021-11-05

    申请号:CN202110744843.2

    申请日:2021-06-30

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明公开一种绝缘气体的绝缘性能分析方法,通过分别测量稍不均匀电场和极不均匀电场下的待测绝缘气体的击穿电压,得到第一击穿电压和第二击穿电压;根据所述第一击穿电压和所述第二击穿电压,计算待测电场变化敏感系数;根据所述待测电场变化敏感系数与预先获取的参考电场变化敏感系数,对所述待测绝缘气体进行绝缘性能分析。本发明还公开了绝缘气体的绝缘性能分析装置、设备及存储介质,能够通过测量待测绝缘气体在稍不均匀电场以及极不均匀电场下的击穿电压,来确定待测绝缘气体对电场变化的敏感系数,进而结合预先获取的SF6气体对电场变化的敏感系数,得到待测绝缘气体对电场变化的敏感程度,对待测绝缘气体的绝缘性能进行分析。

    一种限流电抗器的拓扑及绝缘设计方法及装置

    公开(公告)号:CN111884190A

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202010577001.8

    申请日:2020-06-22

    IPC分类号: H02H9/02

    摘要: 本发明公开一种限流电抗器的拓扑及绝缘设计方法及装置,该方法包括步骤:根据系统潮流数据和系统接线方式,计算短路电流,以确定接入的限流电抗器的电感;根据限流电抗器的电感,确定限流电抗器的额定工频参数;建立包含有限流电抗器的线路的电磁暂态模型,以模拟三相短路接地故障和单相短路接地故障,确定限流电抗器额定短路工况参数和确定断路器的瞬时恢复电压的陡度及幅值,以确定是否需要增加限制措施;在线路无故障甩负荷下和线路末端出现单相接地故障甩负荷下,计算接入限流电抗器后系统的工频过电压。本发明能确定接入线路的限流电抗器的相关参数,还能分析其对断路器开断瞬态和对系统过电压的影响,从而解决短路电流超标问题。

    一种O形密封圈的老化试验装置及老化试验方法

    公开(公告)号:CN113588257A

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN202110673769.X

    申请日:2021-06-17

    IPC分类号: G01M13/005

    摘要: 本发明公开了一种O形密封圈的老化试验装置及老化试验方法,所述O形密封圈的老化试验装置包括气阀、气压表、法兰顶盖、至少一个法兰盘和法兰底盖;法兰盘和法兰底盖均设有安装O形密封圈的O形槽,且O形槽中开设有多个贯通气孔,贯通气孔用于使老化的背景气体与O形密封圈充分接触;法兰顶盖的中心开设有贯通孔,气阀通过贯通孔安装于法兰顶盖的顶部,且气阀的侧面开设有贯通孔,气压表通过贯通孔与所述气阀连接;法兰顶盖、法兰盘和法兰底盖从上到下依次可拆卸连接。本发明结构简单、操作方便,能够增大O形密封圈与老化所使用的背景气体的接触面积,使O形密封圈与背景气体充分接触,从而提高加速效率,实现高效、快速、精准的老化试验。