一种晶格失配度的遍历计算方法及装置

    公开(公告)号:CN117198441A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311235933.4

    申请日:2023-09-22

    IPC分类号: G16C60/00

    摘要: 本发明公开了一种晶格失配度的遍历计算方法及装置,属于材料结构表征及建模计算技术领域。该方法包括:S1:分别导入预设的第一物相以及第二物相的poscar文件,输入各物相的预设考虑元素,获得与第一物相对应的第一原胞以及与第二物相对应的第二原胞;S2:分别对第一原胞和第二原胞进行扩胞,获得第一超晶胞和第二超晶胞;S3:遍历寻找出适合晶格失配度计算的原子组合;S4:对遍历出的原子组合进行原子间边角长度信息筛选,获得满足要求的物相间界面组合信息;S5:根据筛选出的物相间界面组合信息进行晶格失配度计算,并最终保留满足要求的相应晶格。该方法为获取晶体的晶格失配度的界面信息和遍历计算提供了可能性。