公开(公告)号：CN103064011B

公开(公告)日：2015-12-23

申请号：CN201210583486.7

申请日：2012-12-27

申请人： 广州中大微电子有限公司 ,  中山大学

发明人： 胡建国 ,  黄春开 ,  丁颜玉 ,  路崇 ,  王德明

IPC分类号： G01R31/3167

摘要： 本发明公开了一种RFID读写器芯片中测系统及方法，系统包括：包括探针台、中央控制器、上位机、RFID卡和芯片阅读器。方法包括：探针台向中央处理器发出开始测试信号；中央处理器响应探针台发出的开始测试信号，并通过上位机对芯片阅读器发出测试请求；芯片阅读器与RFID卡进行通信测试，并将测试结果和测试结束信号通过上位机反馈给中央控制器；中央处理器处理测试结果并将测试结束信号发送给探针台；探针台显示被测芯片的测试结果。本发明一种RFID读写器芯片中测系统及方法，保证了测试系统的稳定运行，并且能维持各个部件之间通信的高效时序处理，不仅适用于芯片中测过程，同时也适用于芯片封装后的成品测试，具有良好的扩展能力，大大节约研发成本。

公开(公告)号：CN103064011A

公开(公告)日：2013-04-24

申请号：CN201210583486.7

申请日：2012-12-27

申请人： 广州中大微电子有限公司 ,  中山大学

发明人： 胡建国 ,  黄春开 ,  丁颜玉 ,  路崇 ,  王德明

IPC分类号： G01R31/3167

摘要： 本发明公开了一种RFID读写器芯片中测系统及方法，系统包括：包括探针台、中央控制器、上位机、RFID卡和芯片阅读器。方法包括：探针台向中央处理器发出开始测试信号；中央处理器响应探针台发出的开始测试信号，并通过上位机对芯片阅读器发出测试请求；芯片阅读器与RFID卡进行通信测试，并将测试结果和测试结束信号通过上位机反馈给中央控制器；中央处理器处理测试结果并将测试结束信号发送给探针台；探针台显示被测芯片的测试结果。本发明一种RFID读写器芯片中测系统及方法，保证了测试系统的稳定运行，并且能维持各个部件之间通信的高效时序处理，不仅适用于芯片中测过程，同时也适用于芯片封装后的成品测试，具有良好的扩展能力，大大节约研发成本。

公开(公告)号：CN203069749U

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：CN201220735302.X

申请日：2012-12-27

申请人： 广州中大微电子有限公司 ,  中山大学

发明人： 胡建国 ,  黄春开 ,  王德明 ,  丁颜玉 ,  路崇

IPC分类号： G01R31/3167

摘要： 本实用新型公开了一种RFID读写器芯片中测系统，包括探针台、中央控制器、上位机、RFID卡和芯片阅读器，所述的探针台分别与中央控制器和芯片阅读器相连接，所述上位机分别与中央控制器和芯片阅读器相连接，所述芯片阅读器还与RFID卡连接。本实用新型一种RFID读写器芯片中测系统，保证了测试系统的稳定运行，并且能维持各个部件之间通信的高效时序处理，不仅适用于芯片中测过程，同时也适用于芯片封装后的成品测试，具有良好的扩展能力，大大节约研发成本。