气隙缺陷放电模型及GIS缺陷模拟装置

    公开(公告)号:CN204789893U

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201520540128.7

    申请日:2015-07-22

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本实用新型涉及一种气隙缺陷放电模型,包括第一电极、第二电极和气隙,所述第一电极、所述第二电极分别设置在所述气隙缺陷放电模型的两端,所述气隙缺陷放电模型的所述第一电极用于与电压源连接、第二电极用于接地;所述气隙设置在所述气隙缺陷放电模型的内部,且所述气隙的尺寸可调节。上述气隙缺陷放电模型,气隙的尺寸可调节,可预先调节气隙在气隙缺陷放电模型的内部的尺度和控制气隙的位置,可反映实际盆式绝缘子内部气隙缺陷放电的真实情况,并且使气隙缺陷放电模型适用于不同尺寸的气隙的模拟。此外,本实用新型还提供了一种GIS缺陷模拟装置。

    电缆局部放电信号定位装置以及定位方法

    公开(公告)号:CN105093083B

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201510552981.5

    申请日:2015-08-31

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明提供一种电缆局部放电信号定位装置与定位方法,定位装置包括相互连接的信号采集装置和数据处理装置,数据处理装置内置有FPGA芯片,信号采集装置采集输入至电缆的入射波和电缆局部放电信号,数据处理装置提取入射波对应的特征参数和电缆局部放电信号对应的特征参数,比对两者的特征参数,当两者的特征参数匹配时,判定当前电缆局部放电信号为入射波对应的反射波,FPGA芯片计算入射波与反射波之间的时间差,并根据时间差,FPGA芯片计算电缆局部放电的位置。整个装置,采用简单紧凑的结构,FPGA芯片强大的处理能力,准确、高效检测电缆局部放电的位置。

    交联聚乙烯电缆气隙缺陷中间接头的制备方法

    公开(公告)号:CN104332939A

    公开(公告)日:2015-02-04

    申请号:CN201410598521.1

    申请日:2014-10-29

    IPC分类号: H02G15/18 H02G1/14

    CPC分类号: H02G1/14 H01R43/28

    摘要: 本发明公开了一种XLPE电缆气隙缺陷中间接头的制备方法,包括如下步骤:剥离交联聚乙烯电缆的外护套、铠装、内护套、铜屏蔽层以及外半导电层,将外半导电层的断口倒成斜坡状,并进行打磨,使其与绝缘层光滑过渡;在外半导电层的断口处进行切割操作,使其与绝缘层分离,形成气隙;打磨绝缘层的表面,清除吸附在绝缘层表面上的半导电粉尘,并将绝缘层、外半导电层清理干净;将分离的外半导电层覆盖在绝缘层表面上,并使外半导电层的端部保持整齐;剥离绝缘层与内半导电层,并利用中间接头附件连接交联聚乙烯电缆。本发明结合实际生产工艺与电缆运行缺陷情况,制造出外半导电层的气隙缺陷,对于中间接头缺陷局部放电特性的研究具有重要意义。

    套管绝缘杂质缺陷模拟装置及其制备方法

    公开(公告)号:CN105242181A

    公开(公告)日:2016-01-13

    申请号:CN201510575705.0

    申请日:2015-09-10

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明涉及一种套管绝缘杂质缺陷模拟装置,包括电容芯子和瓷套,电容芯子包括导电杆、电容屏和绝缘层,多层绝缘层和多层电容屏依次交替绕设在导电杆上构成电容芯子,所述多层电容屏包括设置在最外层的末屏,靠近末屏的绝缘层的内部设有孔,孔的内部设置有金属丝;瓷套同轴设于电容芯子的外周,且该装置的内部填充绝缘油。该套管绝缘杂质缺陷模拟装置,孔的内部设置有金属丝模拟杂质缺陷,内部设有孔的绝缘层靠近末屏设置以将杂质缺陷局部放电信号较好的传播出来,套管绝缘杂质缺陷模拟装置的内部填充绝缘油从而将该孔也填充绝缘油,使其较好的模拟杂质缺陷放电的真实情况,可用于绝缘层间杂质缺陷的局部放电特性的检测和诊断识别研究。

    电缆局部放电信号定位装置以及定位方法

    公开(公告)号:CN105093083A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201510552981.5

    申请日:2015-08-31

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明提供一种电缆局部放电信号定位装置与定位方法,定位装置包括相互连接的信号采集装置和数据处理装置,数据处理装置内置有FPGA芯片,信号采集装置采集输入至电缆的入射波和电缆局部放电信号,数据处理装置提取入射波对应的特征参数和电缆局部放电信号对应的特征参数,比对两者的特征参数,当两者的特征参数匹配时,判定当前电缆局部放电信号为入射波对应的反射波,FPGA芯片计算入射波与反射波之间的时间差,并根据时间差,FPGA芯片计算电缆局部放电的位置。整个装置,采用简单紧凑的结构,FPGA芯片强大的处理能力,准确、高效检测电缆局部放电的位置。

    套管绝缘杂质缺陷模拟装置及其制备方法

    公开(公告)号:CN105242181B

    公开(公告)日:2018-06-08

    申请号:CN201510575705.0

    申请日:2015-09-10

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明涉及一种套管绝缘杂质缺陷模拟装置,包括电容芯子和瓷套,电容芯子包括导电杆、电容屏和绝缘层,多层绝缘层和多层电容屏依次交替绕设在导电杆上构成电容芯子,所述多层电容屏包括设置在最外层的末屏,靠近末屏的绝缘层的内部设有孔,孔的内部设置有金属丝;瓷套同轴设于电容芯子的外周,且该装置的内部填充绝缘油。该套管绝缘杂质缺陷模拟装置,孔的内部设置有金属丝模拟杂质缺陷,内部设有孔的绝缘层靠近末屏设置以将杂质缺陷局部放电信号较好的传播出来,套管绝缘杂质缺陷模拟装置的内部填充绝缘油从而将该孔也填充绝缘油,使其较好的模拟杂质缺陷放电的真实情况,可用于绝缘层间杂质缺陷的局部放电特性的检测和诊断识别研究。

    用于高压套管的频域介电谱测量装置

    公开(公告)号:CN104407230B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201410652424.6

    申请日:2014-11-17

    IPC分类号: G01R27/26 G01R31/14

    摘要: 本发明涉及一种用于高压套管的频域介电谱测量装置,包括:上位机、信号发生采集模块、高压放大模块以及电流放大模块;信号发生采集模块包括USB接口端、扫描信号输出端、采集电压输入端以及泄露电流输入端,USB接口端与上位机相连;所述扫描信号输出端与高压放大模块输入端相连,所述高压放大模块输出端与被测高压套管的高压端相连;采集电压输入端连接至分压电阻R1和分压电阻R2之间,所述泄露电流输入端经过电流放大模块与被测高压套管的末屏端子相连。本发明的频域介电谱测量装置能够准确而快速地得到变压器高压套管的频域介电谱,进而对变压器高压套管的绝缘状态作出准确评估,能够应用于油浸式电力变压器现场的频域介电谱测量。