公开(公告)号：CN117288103A

公开(公告)日：2023-12-26

申请号：CN202311222209.8

申请日：2023-09-20

申请人： 广州泽亨实业有限公司

发明人： 陈文彬 ,  王也 ,  林国正 ,  冯海永 ,  简伟 ,  吴东升

IPC分类号： G01B11/06 ,  G01N25/72

摘要： 本发明提供了一种涂层膜厚测量方法和系统，所述测量方法包括：S1，使用光源对具有喷涂湿膜的待测工件表面进行曝光，通过红外成像装置记录曝光后喷涂湿膜多个测量点的温度变化数据或者记录曝光前/后喷涂湿膜多个测量点的温度变化数据；S2，根据每个测量点的温度变化数据，计算所述测量点的厚度系数值Φ；S3，根据所述厚度系数值Φ和预设的厚度系数值‑膜厚映射关系，计算所述测量点的干膜厚度值T。本发明测量方法能够在待测工件的喷涂涂层处于湿膜状态下时测量出涂层的干膜厚度，应用本发明测量方法能够在待测工件的喷涂涂层被烘干前发现喷涂厚度缺陷，且本发明方法采用了非接触方式进行测量，不会对喷涂涂层造成破坏。

公开(公告)号：CN117288103B

公开(公告)日：2024-06-07

申请号：CN202311222209.8

申请日：2023-09-20

申请人： 广州泽亨实业有限公司

发明人： 陈文彬 ,  王也 ,  林国正 ,  冯海永 ,  简伟 ,  吴东升

IPC分类号： G01B11/06 ,  G01N25/72

摘要： 本发明提供了一种涂层膜厚测量方法和系统，所述测量方法包括：S1，使用光源对具有喷涂湿膜的待测工件表面进行曝光，通过红外成像装置记录曝光后喷涂湿膜多个测量点的温度变化数据或者记录曝光前/后喷涂湿膜多个测量点的温度变化数据；S2，根据每个测量点的温度变化数据，计算所述测量点的厚度系数值Φ；S3，根据所述厚度系数值Φ和预设的厚度系数值‑膜厚映射关系，计算所述测量点的干膜厚度值T。本发明测量方法能够在待测工件的喷涂涂层处于湿膜状态下时测量出涂层的干膜厚度，应用本发明测量方法能够在待测工件的喷涂涂层被烘干前发现喷涂厚度缺陷，且本发明方法采用了非接触方式进行测量，不会对喷涂涂层造成破坏。