公开(公告)号：CN108918645A

公开(公告)日：2018-11-30

申请号：CN201810697710.2

申请日：2018-06-29

Applicant: 广州禾信仪器股份有限公司

Inventor： 孙露露 ,  侯志辉 ,  陈伟章 ,  其他发明人请求不公开姓名

IPC: G01N27/62

Abstract: 本发明涉及一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB离子肼质谱仪、计算机设备和存储介质，其中质谱获得方法包括以下步骤：将待检测样品通过一系列装置电离成离子后引入离子肼；调节离子肼射频分压比，在即正扫时引入负多级场，在反扫时引入正多级场，将离子都逐出至离子检测装置检测离子，在正扫时，生成第一二级质谱；在反扫时，生成第二二级质谱。该方法测定简单且准确。

公开(公告)号：CN108918645B

公开(公告)日：2021-10-15

申请号：CN201810697710.2

申请日：2018-06-29

Applicant: 广州禾信仪器股份有限公司

Inventor： 孙露露 ,  侯志辉 ,  陈伟章 ,  其他发明人请求不公开姓名

IPC: G01N27/62

Abstract: 本发明涉及一种基于PCB分压离子阱的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB分压离子阱质谱仪、计算机设备和存储介质，其中质谱获得方法包括以下步骤：将待检测样品通过一系列装置电离成离子后引入离子阱；调节离子阱射频分压比，在即正扫时引入负多级场，在反扫时引入正多级场，将离子都逐出至离子检测装置检测离子，在正扫时，生成第一二级质谱；在反扫时，生成第二二级质谱。该方法测定简单且准确。