公开(公告)号：CN103890828B

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201180074336.7

申请日：2011-10-19

申请人： 应用材料公司

发明人： M·布鲁纳

IPC分类号： G09G3/00

CPC分类号： G01R1/02 ,  G01R31/01 ,  G09G3/006

摘要： 描述了一种用以测试柔性基板上的数个电子装置的设备。此设备包括至少两个滚轴（110）、至少一探测器（122）、至少一探测支座（124）及测试装置，此至少两个滚轴用以导引柔性基板沿着传输方向进入测试区及离开测试区，此至少一探测器用以电性接触电子装置中的一或多个，于电性接触探测器时，此至少一探测支座用以支撑柔性基板的一部分，此测试装置用于电子装置中的一或多个的功能测试。

公开(公告)号：CN101454677B

公开(公告)日：2012-05-09

申请号：CN200780019710.7

申请日：2007-05-10

申请人： 应用材料公司

发明人： B·M·约翰斯通 ,  S·克里希纳斯瓦米 ,  H·T·恩古耶 ,  M·布鲁纳 ,  刘永

IPC分类号： G01R1/067

CPC分类号： G09G3/006

摘要： 在此揭示一种用于测试大面积基板的装置和方法。大面积基板包括显示器的图案和在大面积基板上电性连接到显示器上的接触点。所述装置包括相对于大面积基板和/或接触点可移动的探针组件，并配置成可测试各大面积基板上的显示器图案和接触点。探针组件更配置成可测试所述大面积基板上的部分区段。所述装置更包括测试腔室，用以在内部容积中储存至少两个探针组件。

公开(公告)号：CN103890828A

公开(公告)日：2014-06-25

申请号：CN201180074336.7

申请日：2011-10-19

申请人： 应用材料公司

发明人： M·布鲁纳

IPC分类号： G09G3/00

CPC分类号： G01R1/02 ,  G01R31/01 ,  G09G3/006

摘要： 本发明描述了一种用以测试柔性基板上的数个电子装置的设备。此设备包括至少两个滚轴（110）、至少一探测器（122）、至少一探测支座（124）及测试装置，此至少两个滚轴用以导引柔性基板沿着传输方向进入测试区及离开测试区，此至少一探测器用以电性接触电子装置中的一或多个，于电性接触探测器时，此至少一探测支座用以支撑柔性基板的一部分，此测试装置用于电子装置中的一或多个的功能测试。