公开(公告)号：CN101711365A

公开(公告)日：2010-05-19

申请号：CN200880016435.8

申请日：2008-02-26

Applicant: 康明斯滤清系统知识产权公司

Inventor： 托马斯·M·约努谢尼斯 ,  兰德尔·J·斯塔福德 ,  埃德加·拉纳-库尔齐奥 ,  阿密特·谢亚姆

IPC: G01R31/08

CPC classification number: B01D46/0086 ,  B01D2273/18

Abstract: 本发明公开了一种用于检测微粒过滤器中的裂纹的装置、系统和方法。该方法包括提供包括有底层302和底层表面304的后处理设备106的装置、构成结合到底层表面304的表面的导电路径的导电材料和配置为允许测量导电路径306的电阻的接入点108。该方法可包括测量导电路径306的电阻，并基于电阻测量，确定在底层表面304上是否已经出现一个或更多个裂纹。该方法可进一步包括基于指示的裂纹的数量，标注后处理设备106的性能降低水平，并基于性能降低水平，在服务事件后，用等效的后处理设备替换后处理设备106。

公开(公告)号：CN101711365B

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN200880016435.8

申请日：2008-02-26

Applicant: 康明斯滤清系统知识产权公司

Inventor： 托马斯·M·约努谢尼斯 ,  兰德尔·J·斯塔福德 ,  埃德加·拉纳-库尔齐奥 ,  阿密特·谢亚姆

IPC: G01R31/08

CPC classification number: B01D46/0086 ,  B01D2273/18

Abstract: 本发明公开了一种用于检测微粒过滤器中的裂纹的装置、系统和方法。该方法包括提供包括有底层302和底层表面304的后处理设备106的装置、构成结合到底层表面304的表面的导电路径的导电材料和配置为允许测量导电路径306的电阻的接入点108。该方法可包括测量导电路径306的电阻，并基于电阻测量，确定在底层表面304上是否已经出现一个或更多个裂纹。该方法可进一步包括基于指示的裂纹的数量，标注后处理设备106的性能降低水平，并基于性能降低水平，在服务事件后，用等效的后处理设备替换后处理设备106。