公开(公告)号：CN113452440A

公开(公告)日：2021-09-28

申请号：CN202110771348.0

申请日：2021-07-08

Applicant: 恒安嘉新(北京)科技股份公司

Inventor： 李瑞 ,  嵇振东 ,  贾李健 ,  王征归 ,  王杰 ,  杨满智 ,  蔡琳 ,  梁彧 ,  田野 ,  金红 ,  陈晓光 ,  傅强

IPC: H04B10/079

Abstract: 本发明实施例公开了一种光模块的质量检测方法、装置、存储介质及电子设备，所述方法包括：处理芯片响应于光模块的质量检测事件被触发，向光模块发送第一PRBS码流；接收所述光模块反馈的第二PRBS码流；其中，所述光模块的接收端与发送端通过光纤自闭环连接，所述第二PRBS码流为基于所述光模块的闭环连接方式，接收的所述光纤传输的目标光信号对应的电信号；所述目标光信号为所述光模块对第一PRBS码流进行光电转换后的光信号；基于所述第一PRBS码流与所述第二PRBS码流，计算所述光模块的比特出错概率BER；基于所述BER确定所述光模块的质量。通过本发明实施例提供的技术方案，能够快速、准确地检测出光模块的质量。