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公开(公告)号：CN103454251A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201310262972.3
申请日：2013-05-31
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
IPC: G01N21/49
CPC classification number: G01N21/53 , G01N21/4785
Abstract: 本发明涉及一种用于对浊度传感器进行调整、校准和/或功能检查的实心体(1)，其与至少第一波长的电磁波，特别是光一起工作，并且其中，该实心体(1)至少对第一波长的光是透明的，其特征在于，实心体(1)中提供有至少第一区域(5)，其中，至少第一波长的入射光(3)被散射，其中，散射光(4)是浊度的量度。
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公开(公告)号：CN101889195B
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN200880119157.9
申请日：2008-12-02
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
IPC: G01N21/55
CPC classification number: G01N21/552 , G01N21/8507 , G01N2021/434 , G01N2201/08
Abstract: ATR探针包括：整体的ATR体(2)，其具有可被施加介质的表面区段(24)；发射光导组件(1)，用于将非准直的光入射到ATR体(2)内；接收光导组件(3)，用于接收通过ATR体后的入射光，其中，光通过ATR体包括在ATR体的接触介质的表面(24)上的至少两次全反射；其特征在于，用于接收从ATR体出来的光的接收光导组件的面积大于用于将光入射到ATR体内的发射光导组件的面积。ATR体(2)最好包括至少一个具有锥形或截锥形表面(24)的区段，且截锥形的表面至少可以部分地被施加介质。
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公开(公告)号：CN104111237A
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201410150453.2
申请日：2014-04-15
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
IPC: G01N21/49
CPC classification number: G01N21/53 , G01N15/06 , G01N21/15 , G01N21/8507 , G01N33/18 , G01N2015/0053 , G01N2015/0065 , G01N2015/0693 , G01N2021/4709 , G01N2021/4726 , G01N2201/062
Abstract: 本发明有关于一种用于光学地测量介质（5）的一种或更多种物理、化学和/或生物学过程变量的布置（1），其中所述介质（5）位于管道（3）中，特别地所述介质（5）流经所述管道（3），其中所述布置（1）包括外壳（4）并且所述外壳（4）被具体实施以用于在所述管道（3）中的固定，其中所述外壳（3）被具体实施以用于容纳用于将光通过窗口区域（9）发射到所述介质（5）中的至少一个光源（7）以及用于通过所述窗口区域（9）从所述介质（5）接收光的至少一个光接收器（8），并且其中所述光被所述介质（5）散射并且由所述光接收器（8）接收的光强度是用于所述物理、化学和/或生物学过程变量的量度，其特征在于，所述光源（7）被布置为使得所述光在所述在所述管道（3）的纵向方向（L3）上介质（5）中传播。本发明还涉及一种浊度传感器。
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公开(公告)号：CN101889195A
公开(公告)日：2010-11-17
申请号：CN200880119157.9
申请日：2008-12-02
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
IPC: G01N21/55
CPC classification number: G01N21/552 , G01N21/8507 , G01N2021/434 , G01N2201/08
Abstract: ATR探针包括：整体的ATR体(2)，其具有可被施加介质的表面区段(24)；发射光导组件(1)，用于将非准直的光入射到ATR体(2)内；接收光导组件(3)，用于接收通过ATR体后的入射光，其中，光通过ATR体包括在ATR体的接触介质的表面(24)上的至少两次全反射；其特征在于，用于接收从ATR体出来的光的接收光导组件的面积大于用于将光入射到ATR体内的发射光导组件的面积。ATR体(2)最好包括至少一个具有锥形或截锥形表面(24)的区段，且截锥形的表面至少可以部分地被施加介质。
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公开(公告)号：CN103545655B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201310332634.2
申请日：2013-07-17
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
IPC: H01R13/52 , H01R13/658 , H01R43/00
CPC classification number: H01R13/5205 , H01R13/512 , H01R13/6581 , H01R43/04 , Y10T29/49174
Abstract: 本发明涉及一种用于在电缆和传感器之间产生电接触的接触系统，其中电缆至少包括第一和第二导体，包括：呈圆柱形的接触主体，其至少具有第一开口、第二开口和在它们之间的接触主体中部，在第一开口处设置密封元件，该密封元件被实施为与介质隔离地密封接触主体中部，并且设置第一连接结构和第一接触结构；以及呈圆柱形的电缆端部零件，其中设置与第一连接结构对应的第二连接结构，设置与第一接触结构对应的第二接触结构，至少设置第一开口、第二开口以及在它们之间的电缆端部零件中部，第一开口被实施为用于容纳接触主体的第二端部区域，并且在第一开口区域至少设置第一密封元件，该密封元件被实施为与介质隔离地密封电缆端部零件中部。
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公开(公告)号：CN101963575B
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201010235296.7
申请日：2010-07-22
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
CPC classification number: G01N21/53 , G01N15/06 , G01N21/274 , G01N2015/0693 , G01N2201/061 , G01N2201/0662
Abstract: 本发明公开了一种浊度测量装置和用于确定引起浊度的物质的浓度的方法。该浊度测量装置包括：第一光源L1和第二光源L2；第一接收器R1和第二接收器R2；其中直接测量路径从光源Li延伸通过测量介质到达接收器Ri，且间接测量路径从光源Li延伸通过测量介质到达第二接收器Rj；其中i≠j；其中浊度作为商A/B的函数能被利用计算电路得到确定；其中A和B至少是在直接或间接测量路径上记录的信号的函数；其中取决于第一光源的强度的至少一个第一监测信号进入两个项A或B中的一个；其中光从第一光源到达监测器，而不与测量介质相互作用；其中监测信号被添加到至少一个在测量路径上记录并进入项A或B的信号中。
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公开(公告)号：CN103545655A
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN201310332634.2
申请日：2013-07-17
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
IPC: H01R13/52 , H01R13/658 , H01R43/00
CPC classification number: H01R13/5205 , H01R13/512 , H01R13/6581 , H01R43/04 , Y10T29/49174
Abstract: 本发明涉及一种用于在电缆和传感器之间产生电接触的接触系统，其中电缆至少包括第一和第二导体，包括：呈圆柱形的接触主体，其至少具有第一开口、第二开口和在它们之间的接触主体中部，在第一开口处设置密封元件，该密封元件被实施为与介质隔离地密封接触主体中部，并且设置第一连接结构和第一接触结构；以及呈圆柱形的电缆端部零件，其中设置与第一连接结构对应的第二连接结构，设置与第一接触结构对应的第二接触结构，至少设置第一开口、第二开口以及在它们之间的电缆端部零件中部，第一开口被实施为用于容纳接触主体的第二端部区域，并且在第一开口区域至少设置第一密封元件，该密封元件被实施为与介质隔离地密封电缆端部零件中部。
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公开(公告)号：CN101963575A
公开(公告)日：2011-02-02
申请号：CN201010235296.7
申请日：2010-07-22
Applicant: 恩德莱斯和豪瑟尔测量及调节技术分析仪表两合公司
CPC classification number: G01N21/53 , G01N15/06 , G01N21/274 , G01N2015/0693 , G01N2201/061 , G01N2201/0662
Abstract: 本发明公开了一种浊度测量装置和用于确定引起浊度的物质的浓度的方法。该浊度测量装置包括：第一光源L1和第二光源L2；第一接收器R1和第二接收器R2；其中直接测量路径从光源Li延伸通过测量介质到达接收器Ri，且间接测量路径从光源Li延伸通过测量介质到达第二接收器Rj；其中i≠j；其中浊度作为商A/B的函数能被利用计算电路得到确定；其中A和B至少是在直接或间接测量路径上记录的信号的函数；其中取决于第一光源的强度的至少一个第一监测信号进入两个项A或B中的一个；其中光从第一光源到达监测器，而不与测量介质相互作用；其中监测信号被添加到至少一个在测量路径上记录并进入项A或B的信号中。
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