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发明公开
介质高度不均匀性检测审中-实审

公开(公告)号：CN113543975A

公开(公告)日：2021-10-22

申请号：CN201980093149.X

申请日：2019-04-30

申请人： 惠普发展公司 , 有限责任合伙企业

发明人： M·J·韦斯特

IPC分类号： B41F33/00 , B65H26/02 , B65H43/04 , B41L39/00 , B65H43/08

摘要： 在本公开的示例中，利用位于与辊相邻的第一光发送器和第一光接收器对，测量沿着辊的长度发射穿过卷材介质的第一光束的功率。利用位于与辊相邻的第二光发送器和第二光接收器对，测量发射穿过辊的长度的第二光束的功率。基于第一光束的功率的测量和第二光束的功率的测量，识别介质高度不均匀性。