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公开(公告)号：CN119519859A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411166558.7
申请日：2024-08-23
Applicant: 意法半导体国际公司
Abstract: 本公开涉及数字装置的时域性能测试。本公开的各种实施例公开了用于测试数字装置的改进的BIST系统和方法。用于测试数字装置的方法包括至少部分地基于输入信号接收来自被测装置DUT的输出信号。处理输出信号以生成DUT的噪声信号和恢复信号。控制器可以至少部分地基于噪声和恢复信号生成信噪功率比，并将信噪功率比与预定功率阈值进行比较以生成性能度量。
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