半导体装置以及电子设备
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117476716A

    公开(公告)日:2024-01-30

    申请号:CN202310939684.0

    申请日:2023-07-28

    Inventor: 谷畑笃史

    Abstract: 本发明提供一种半导体装置以及电子设备,不增加像素尺寸而与以往相比能够增加电容元件的电容。像素(10)具备:形成在半导体基板(21)上且避开形成有光电二极管(11)的区域并且形成在形成有读出电路(12)的区域的下部金属电极(41)、上部金属电极(43)以及电容器绝缘膜(42),至少一个接触件(44、45),将下部金属电极(41)和金属布线(40)电连接;以及至少一个接触件(46),将上部金属电极(43)和金属布线(40)电连接。

    半导体装置和半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN112582467A

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN202010994669.2

    申请日:2020-09-21

    Inventor: 谷畑笃史

    Abstract: 公开了半导体装置和半导体装置的制造方法。提供抑制了晶体缺陷的半导体装置和半导体装置的制造方法。具备参与电路动作的电路图案(21)和不参与电路动作的虚设图案(20),虚设图案(20)被设为与电路图案(21)相比更容易出现应力所致的晶体缺陷的图案。

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