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公开(公告)号：CN116744532A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310691562.4
申请日：2023-06-12
Applicant: 散裂中子源科学中心 , 中国科学院高能物理研究所
Inventor： 宁常军 , 敬罕涛 , 齐欣 , 康玲 , 于永积 , 陈佳鑫 , 何泳成 , 马娜 , 孙晓阳 , 谭志新 , 王广源 , 刘仁洪 , 刘磊 , 余洁冰 , 张俊嵩 , 贺华艳 , 聂小军 , 梁静
Abstract: 本发明公开一种粒子束用的限流降能装置及其使用方法，限流降能装置包括真空腔体、限流器和多个降能器，限流器和各降能器平行设于真空腔体内；每个降能器中设有位置可调的两个降能块，各降能块呈楔形板状结构，两个降能块相平行设置且在调节过程中进行相对运动。其使用方法是限流器和各降能器之间相互独立运行，在仅需要调节流强时，调节限流器至所需位置即可，在仅需要调节能量时，调节多个降能器或择一调节单个降能器，至束流经过的各降能块厚度相加达到所需降能材料的厚度值即可，在需要同时调节流强和能量时，同时调节限流器和单个降能器或多个降能器，使束流依次穿过限流器和降能器。本发明中降能器的厚度连续可调，使用灵活而方便。
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公开(公告)号：CN116719077A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202310691549.9
申请日：2023-06-12
Applicant: 散裂中子源科学中心 , 中国科学院高能物理研究所
Inventor： 宁常军 , 敬罕涛 , 谭志新 , 齐欣 , 康玲 , 何泳成 , 梁静 , 陈佳鑫 , 柯志勇 , 贺华艳 , 刘磊 , 刘仁洪 , 聂小军 , 王广源 , 于永积 , 余洁冰 , 张俊嵩
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明公开一种大气环境多功能样品辐照测试平台及其使用方法，测试平台包括准直调节底座、第一样品座和第二样品座，第一样品座和第二样品座沿准直调节底座进行横移运动；第一样品框架沿第一样品座进行升降运动；第二样品框架沿第二样品座进行升降运动。其使用方法是将样品通过样品板安装于样品框架中，沿准直调节底座调整样品框架的水平位置，沿样品座调整样品框架的高度，使样品的待测试位置移动至束流中心后，记录下当前位置的坐标，通过记录的坐标为后续实验中样品板上的待测试位置定位提供参考。本发明使用双座设计，一方面可以提升负载能力，另一方面双座之间能进行独立运动、同步运动或配合运动，使用灵活，可适应不同规格样品使用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115248408A
公开(公告)日：2022-10-28
申请号：CN202210520705.0
申请日：2022-05-12
Applicant: 散裂中子源科学中心 , 中国科学院高能物理研究所
Abstract: 本发明涉及材料测试技术领域，具体涉及一种软磁合金材料磁性能测试方法和装置。方法包括：将待测软磁合金材料制成环状或棒状样品，并在样品上绕制初级励磁线圈和次级感应线圈；将绕制后的样品安装在真空环境中，采用粒子束线对样品进行辐照，并使得粒子束线的辐照方向与样品所在的平面垂直；在初级励磁线圈中通入励磁电流，同时采集次级感应线圈上的次级感应信号；根据励磁电流、次级感应信号以及样品的参数计算待测软磁合金材料的磁性能参数。这样可以快速的得到软磁合金材料在粒子辐照环境下的磁性能参数变化趋势，测试周期短，节约了时间成本。
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公开(公告)号：CN110988971A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911388864.4
申请日：2019-12-30
Applicant: 中国科学院高能物理研究所
Abstract: 本发明公开一种宽能谱白光中子共振照相探测器及探测方法，探测器中，探测器本体内部为空腔结构，两端分别设有入射窗和后窗，沿入射窗至后窗方向设置中子敏感MCP、普通高性能MCP和位敏阳极条阵列电路板，靠近后窗的探测器本体侧壁上设有真空抽气口，位敏阳极条阵列电路板连接有信号引出电极，信号引出电极一端设于探测器本体侧壁上。其探测方法是中子束流从入射窗处射入，先与中子敏感MCP中的硼元素发生作用产生带电粒子，带电粒子激发电子，电子经过普通高性能MCP产生电子级联放大后，漂移至位敏阳极条阵列电路板上并形成电脉冲信号，再由信号引出电极处输出。本发明可实现在高强度宽能谱中子源上对全部共振核素进行分辨的共振照相。
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公开(公告)号：CN110988971B
公开(公告)日：2022-02-22
申请号：CN201911388864.4
申请日：2019-12-30
Applicant: 中国科学院高能物理研究所
Abstract: 本发明公开一种宽能谱白光中子共振照相探测器及探测方法，探测器中，探测器本体内部为空腔结构，两端分别设有入射窗和后窗，沿入射窗至后窗方向设置中子敏感MCP、普通高性能MCP和位敏阳极条阵列电路板，靠近后窗的探测器本体侧壁上设有真空抽气口，位敏阳极条阵列电路板连接有信号引出电极，信号引出电极一端设于探测器本体侧壁上。其探测方法是中子束流从入射窗处射入，先与中子敏感MCP中的硼元素发生作用产生带电粒子，带电粒子激发电子，电子经过普通高性能MCP产生电子级联放大后，漂移至位敏阳极条阵列电路板上并形成电脉冲信号，再由信号引出电极处输出。本发明可实现在高强度宽能谱中子源上对全部共振核素进行分辨的共振照相。
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公开(公告)号：CN106855522B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201611270697.X
申请日：2016-12-30
Applicant: 中国科学院高能物理研究所
IPC: G01N23/05
Abstract: 一种白光中子成像方法，包括步骤：中子源发射脉冲中子束并记录发射时间；探测器探测脉冲中子束得到中子的位置和到达时间并传输到处理单元；处理单元根据中子的到达时间及记录的发射时间得到中子的能量信息，对中子按能量分组得到二维中子通量分布重复上述步骤，得到放置样品时的二维中子通量分布根据的值及能量分组信息生成具有中子能量信息的中子透射图像。另提出一种无损检测材料组成的方法，利用不同角度采集的位置信息重建三维空间信息并结合能量信息得到空间单元格点的透射信息，将此值与原子核数据库比对确定材料的组成。本发明在无损情况下可精确地确定材料的组成，测量的中子能量范围最宽可以覆盖从eV到百兆eV。
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公开(公告)号：CN106855522A
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201611270697.X
申请日：2016-12-30
Applicant: 中国科学院高能物理研究所
IPC: G01N23/05
CPC classification number: G01N23/05
Abstract: 一种白光中子成像方法，包括步骤：中子源发射脉冲中子束并记录发射时间；探测器探测脉冲中子束得到中子的位置和到达时间并传输到处理单元；处理单元根据中子的到达时间及记录的发射时间得到中子的能量信息，对中子按能量分组得到二维中子通量分布重复上述步骤，得到放置样品时的二维中子通量分布根据的值及能量分组信息生成具有中子能量信息的中子透射图像。另提出一种无损检测材料组成的方法，利用不同角度采集的位置信息重建三维空间信息并结合能量信息得到空间单元格点的透射信息，将此值与原子核数据库比对确定材料的组成。本发明在无损情况下可精确地确定材料的组成，测量的中子能量范围最宽可以覆盖从eV到百兆eV。
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