正弦规测量斜面的方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115790336A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211511616.6

    申请日:2022-11-29

    IPC分类号: G01B5/24 G01B5/02

    摘要: 本发明的实施例提供了一种正弦规测量斜面的方法,涉及异形件正弦规测量领域。旨在改善异形件无直角的情况下,定位困难,尺寸精度难以检测的问题。正弦规测量斜面的方法包括利用第一量棒和/或第一量块将待测工件支撑在正弦规上,利用第二量块支撑正弦规,以将待测工件的斜面转化为平面;根据第一量棒的直径和/或第一量块的厚度δ,以及待测工件的待测角度理论值α,得到待测工件的最低点到正弦规角点的理论高度AB;根据待测工件的最低点到正弦规角点的理论高度AB、正弦规角点到平板的理论高度H2以及待测工件的高H3,得到待测工件的平面到平板的理论高度H。利用量块和量棒组合使用,提供了无直角的异形件测量提供了测量方法。