接触敏感装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100405266C

    公开(公告)日:2008-07-23

    申请号:CN200380104775.3

    申请日:2003-12-03

    IPC分类号: G06F3/033

    摘要: 一种接触敏感装置,包括一能够支持弯曲波的部件(12)、安装于该部件(12)上用于测量该部件中的弯曲波振动的三个感测器(16),由此每个感测器(16)确定一所测量的弯曲波信号,以及一从这些所测量的弯曲波信号计算该部件上的接触的位置的处理器。该处理器计算每个所测量弯曲波信号的相位角以及至少两对感测器的相位角之间的相位差异,以便计算出至少两个相位差异,并从中确定该接触的位置。

    接触敏感装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101071358A

    公开(公告)日:2007-11-14

    申请号:CN200710127411.7

    申请日:2002-07-03

    IPC分类号: G06F3/043

    CPC分类号: G06F3/0436 G06F3/043

    摘要: 一种接触敏感装置,该装置包含:构件,能够支持弯曲波;安装在该构件上的第一传感器,用于测量该构件中的弯曲波振动,该传感器确定第一测量弯曲波信号;及处理器,用于从该第一测量弯曲波信号计算与该构件上的接触有关的信息,该处理器根据支持该弯曲波的该构件的材料的色散关系应用校正;其特征在于:该装置包含第二传感器,用以确定第二测量弯曲波信号,该第二测量弯曲波信号与该第一测量弯曲波信号同时测量;以及该处理器计算两个测量弯曲波信号的色散校正函数,以确定与该接触有关的信息,该色散校正函数选自由色散校正相关函数、色散校正卷积函数、色散校正相干函数以及其它相位等价函数所组成的群组。

    接触敏感装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101071357A

    公开(公告)日:2007-11-14

    申请号:CN200710127410.2

    申请日:2002-07-03

    IPC分类号: G06F3/043

    CPC分类号: G06F3/0436 G06F3/043

    摘要: 一种接触敏感装置,该装置包含:构件,能够支持弯曲波;安装在该构件上的传感器,用于测量该构件中的弯曲波振动,以确定第一测量弯曲波信号;以及处理器,从来自该传感器的第一测量弯曲波信号计算与接触位置相关的信息,其中该构件的表面包含升高样式,由此,画过该表面的接触提供变力至该构件,以在该构件中产生弯曲波。

    接触敏感装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101071357B

    公开(公告)日:2010-10-06

    申请号:CN200710127410.2

    申请日:2002-07-03

    IPC分类号: G06F3/043

    CPC分类号: G06F3/0436 G06F3/043

    摘要: 一种接触敏感装置,该装置包含:构件,能够支持弯曲波;安装在该构件上的传感器,用于测量该构件中的弯曲波振动,以确定第一测量弯曲波信号;以及处理器,从来自该传感器的第一测量弯曲波信号计算与接触位置相关的信息,其中该构件的表面包含升高样式,由此,画过该表面的接触提供变力至该构件,以在该构件中产生弯曲波。

    接触敏感装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100570543C

    公开(公告)日:2009-12-16

    申请号:CN200710127411.7

    申请日:2002-07-03

    IPC分类号: G06F3/043

    CPC分类号: G06F3/0436 G06F3/043

    摘要: 一种接触敏感装置,该装置包含:构件,能够支持弯曲波;安装在该构件上的第一传感器,用于测量该构件中的弯曲波振动,该传感器确定第一测量弯曲波信号;及处理器,用于从该第一测量弯曲波信号计算与该构件上的接触有关的信息,该处理器根据支持该弯曲波的该构件的材料的色散关系应用校正;其特征在于:该装置包含第二传感器,用以确定第二测量弯曲波信号,该第二测量弯曲波信号与该第一测量弯曲波信号同时测量;以及该处理器计算两个测量弯曲波信号的色散校正函数,以确定与该接触有关的信息,该色散校正函数选自由色散校正相关函数、色散校正卷积函数、色散校正相干函数以及其它相位等价函数所组成的群组。

    接触敏感装置
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100349106C

    公开(公告)日:2007-11-14

    申请号:CN02813433.8

    申请日:2002-07-03

    CPC分类号: G06F3/0436 G06F3/043

    摘要: 一种接触敏感装置(10),该装置包含:构件(12),能支持弯曲波;安装在该构件上的第一传感器(16),用于测量该构件中的弯曲波振动,该传感器(16)确定第一测量弯曲波信号;及处理器,用于从测量弯曲波信号计算与构件(12)上的接触有关的信息,该处理器根据支持弯曲波的构件(12)的材料的色散关系应用校正;其特征为:装置(10)包含第二传感器(16),用以确定第二测量弯曲波信号,该信号与第一测量弯曲波信号同时测量;以及该处理器计算二测量弯曲波的色散校正函数,该函数是选自由色散校正相关函数、色散校正卷积函数、色散校正相干函数和其它相位等价函数组成的群组,以确定有关接触的信息。

    接触敏感装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1739090A

    公开(公告)日:2006-02-22

    申请号:CN02813433.8

    申请日:2002-07-03

    IPC分类号: G06F3/043

    CPC分类号: G06F3/0436 G06F3/043

    摘要: 一种接触敏感装置(10),该装置包含:构件(12),能支持弯曲波;安装在该构件上的第一传感器(16),用于测量该构件中的弯曲波振动,该传感器(16)确定第一测量弯曲波信号;及处理器,用于从测量弯曲波信号计算与构件(12)上的接触有关的信息,该处理器根据支持弯曲波的构件(12)的材料的色散关系应用校正;其特征为:装置(10)包含第二传感器(16),用以确定第二测量弯曲波信号,该信号与第一测量弯曲波信号同时测量;以及该处理器计算二测量弯曲波的色散校正函数,该函数是选自由色散校正相关函数、色散校正卷积函数、色散校正相干函数和其它相位等价函数组成的群组,以确定有关接触的信息。

    接触敏感装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1720498A

    公开(公告)日:2006-01-11

    申请号:CN200380104775.3

    申请日:2003-12-03

    IPC分类号: G06F3/033

    摘要: 一种接触敏感装置,包括一能够支持弯曲波的部件(12)、安装于该部件(12)上用于测量该部件中的弯曲波振动的三个感测器(16),由此每个感测器(16)确定一所测量的弯曲波信号,以及一从这些所测量的弯曲波信号计算该部件上的接触的位置的处理器。该处理器计算每个所测量弯曲波信号的相位角以及至少两对感测器的相位角之间的相位差异,以便计算出至少两个相位差异,并从中确定该接触的位置。