公开(公告)号：CN101202051A

公开(公告)日：2008-06-18

申请号：CN200710199584.X

申请日：2007-12-12

申请人： 新科实业有限公司

发明人： 藤井隆司 ,  佐藤庆一

IPC分类号： G11B5/455 ,  G11B5/41 ,  G01N21/88

CPC分类号： G11B5/102 ,  G01N21/95 ,  G11B5/3166 ,  G11B5/3173 ,  G11B5/3189

摘要： 本发明提供一种既能抑制对磁头滑块的影响，又能高效率地进行磁头滑块外观检查的方法。一种磁头滑块的检查方法，是在多个矩形形状的磁头滑块沿长形条的长度方向排列成一列的状态下检查磁头滑块的方法。该方法包括：支撑长形条的支撑步骤，从而在分别以长形条长度方向两侧的端面以外的磁头滑块四个面为起点向外侧延伸的四个法线矢量中，使从第一面延伸的第一法线矢量和从与第一面相邻的第二面延伸的第二法线矢量同时具有铅直方向上的分量；检查步骤，从而对被支撑的所述长形条中的磁头滑块，用第一检查单元光学地检查其所述第一面，同时用第二检查单元光学地检查其所述第二面。另外，本发明还提供一种磁头滑块的检查装置。