X射线管管电压的给定控制方法和装置

    公开(公告)号:CN113573452A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202110804998.0

    申请日:2021-07-16

    Abstract: 本发明提供了一种X射线管管电压的给定控制方法和装置,所述方法包括以下步骤:获取X射线管已设置的管电压值和预设置的管电压值;判断预设置的管电压值是否超过管电压阈值;若预设置的管电压值未超过管电压阈值,则判断预设置的管电压值是否超过已设置的管电压值;若预设置的管电压值超过管电压阈值,则判断已设置的管电压值是否超过管电压阈值,以及预设置的管电压值是否超过已设置的管电压值;根据判断结果控制X射线管管电压从已设置的管电压值逐步调整至预设置的管电压值。本发明能够有效防止放电现象的发生,从而能够提高设备的使用寿命。

    一种微焦点射线源用分辨率测试卡及其制备方法

    公开(公告)号:CN113701999B

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202110900947.8

    申请日:2021-08-06

    Abstract: 本发明提供一种微焦点射线源用分辨率测试卡及其制备方法,包括以下步骤:对基体进行预处理,使表面洁净;在洁净的基体上生长一层重金属层;在重金属层上甩涂一层光刻胶,并烘烤固形;设计分辨率测试卡图案,并转换成激光直写设备可识别的代码;将基体放置于曝光平台,使除所需图案以外区域的光刻胶曝光;将曝光后的基体置于显影液中浸泡,待分辨率测试卡图像显现后,清洗并烘干;去除掉没有光刻胶保护区域的薄膜,结束后将基体清洗洁净;在刻蚀后的基体表面生长一层保护层,制备完成分辨率测试卡芯片;将分辨率测试卡芯片固定在中心开孔的铝板上,并在其表面做一层保护膜;大大提高了微焦点射线源空间分辨率的检测精度。

    微聚焦射线源控制电路及微聚焦射线源

    公开(公告)号:CN115915560A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202211453234.2

    申请日:2022-11-21

    Abstract: 本发明公开了一种微聚焦射线源的控制电路及微聚焦射线源,微聚焦射线源的控制电路包括:控制信号调节电路、第一光电隔离电路、驱动电路和反馈电路;控制信号调节电路的控制信号输入端用于接入控制信号、反馈信号输入端与反馈电路的输出端电连接,控制信号调节电路用于根据控制信号生成调节信号;第一光电隔离电路的输入端与控制信号调节电路的输出端电连接,第一光电隔离电路的输出端与驱动电路的控制端电连接,第一光电隔离电路的输出端还与反馈电路的输入端电连接,第一光电隔离电路用于根据调节信号生成第一隔离信号;反馈电路用于根据第一隔离信号生成反馈信号。本发明将电路中强电测和弱电侧进行电气隔离,有利于提高电路的安全性。

    开放式微焦点X射线源及其控制方法

    公开(公告)号:CN113793790A

    公开(公告)日:2021-12-14

    申请号:CN202111006063.4

    申请日:2021-08-30

    Abstract: 本发明提供一种开放式微焦点X射线源及其控制方法,所述开放式微焦点X射线源包括:开放式射线管,开放式射线管包括阴极系统、偏转系统、聚焦系统;高压电源系统,高压电源系统用于为电子束提供发射电流I0、加速高压U0和栅压UG;真空系统,真空系统用于进行抽真空处理;控制系统,控制系统用于根据轰击阳极靶的电子束的束斑尺寸控制高压电源系统对发射电流I0、加速高压U0、偏转系统的偏转线圈电流IXY、聚焦系统的聚焦线圈电流IF进行调节,以使束斑尺寸满足预设要求。该开放式微焦点X射线源可以根据反馈参数变化对输入参数进行自动调节,使开放式微焦点X射线源工作在最佳参数下,减少人为操作引起的错误,使放射出的X光的质量更高,稳定性更好。

    一种微焦点射线源用分辨率测试卡及其制备方法

    公开(公告)号:CN113701999A

    公开(公告)日:2021-11-26

    申请号:CN202110900947.8

    申请日:2021-08-06

    Abstract: 本发明提供一种微焦点射线源用分辨率测试卡及其制备方法,包括以下步骤:对基体进行预处理,使表面洁净;在洁净的基体上生长一层重金属层;在重金属层上甩涂一层光刻胶,并烘烤固形;设计分辨率测试卡图案,并转换成激光直写设备可识别的代码;将基体放置于曝光平台,使除所需图案以外区域的光刻胶曝光;将曝光后的基体置于显影液中浸泡,待分辨率测试卡图像显现后,清洗并烘干;去除掉没有光刻胶保护区域的薄膜,结束后将基体清洗洁净;在刻蚀后的基体表面生长一层保护层,制备完成分辨率测试卡芯片;将分辨率测试卡芯片固定在中心开孔的铝板上,并在其表面做一层保护膜;大大提高了微焦点射线源空间分辨率的检测精度。

    一种使开放式X射线管具有多种工作模式的方法

    公开(公告)号:CN115394619B

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202210943733.3

    申请日:2022-08-08

    Abstract: 本发明提供了一种使开放式X射线管具有多种工作模式的方法,包括以下步骤:S1:根据电子光学原理在开放式X射线管内设计两级磁聚焦透镜;S2:控制所述两级磁透镜的工作电流来控制其产生的磁场大小,影响其对电子束的聚焦作用,从而实现多种不同的工作模式,解决了传统的开放式微焦点X射线管工作模式单一,应用场景有限的问题,在具有同一物理结构的开放式微焦点X射线管中利用电子光学实现三种不同的工作模式,丰富了开放式微焦点X射线管的应用场景。

    X射线管管电压的给定控制方法和装置

    公开(公告)号:CN113573452B

    公开(公告)日:2024-12-27

    申请号:CN202110804998.0

    申请日:2021-07-16

    Abstract: 本发明提供了一种X射线管管电压的给定控制方法和装置,所述方法包括以下步骤:获取X射线管已设置的管电压值和预设置的管电压值;判断预设置的管电压值是否超过管电压阈值;若预设置的管电压值未超过管电压阈值,则判断预设置的管电压值是否超过已设置的管电压值;若预设置的管电压值超过管电压阈值,则判断已设置的管电压值是否超过管电压阈值,以及预设置的管电压值是否超过已设置的管电压值;根据判断结果控制X射线管管电压从已设置的管电压值逐步调整至预设置的管电压值。本发明能够有效防止放电现象的发生,从而能够提高设备的使用寿命。

    一种电子束对中装置及对中方法

    公开(公告)号:CN113707513B

    公开(公告)日:2024-12-10

    申请号:CN202110901033.3

    申请日:2021-08-06

    Abstract: 本发明提供了一种电子束对中装置及对中方法,具体包括以下步骤:在真空状态下,产生电子束;对偏转线圈以一定步长施加偏转电流,并记录电流计的示数;计算机对扫描过程进行分析,得到电流计示数最小时所施加的偏转电流;重复上述步骤,得到电子束对中参数,解决了传统电子束对中装置结构复杂,调整起来费时费力的问题,通过扫描方式完成电子束的对中,大大提高了对中精度且可实现调整过程的智能化且对中装置结构简单,操作方便。

    一种靶窗分离双真空室透射X射线管

    公开(公告)号:CN113571396B

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202110783493.0

    申请日:2021-07-12

    Abstract: 本发明涉及射线管技术领域,尤其是一种靶窗分离双真空室透射X射线管,包括射线管壳,射线管壳由阳极靶片隔离成两个真空室,两个真空室分别为电子束真空室和射线真空室,电子束真空室中的阴极模块产生电子束经栅极和聚焦模块聚焦后与阳极靶片碰撞形成焦斑,阳极靶片辐射出X射线,并从射线真空室的射线出射窗放射到射线管壳的外部,本发明可以解决现有技术中阳极靶片与射线出射窗因热膨胀系数不一样而容易发生剥离现象的问题。

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