公开(公告)号：CN103575757A

公开(公告)日：2014-02-12

申请号：CN201310345457.1

申请日：2013-08-09

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博 ,  坂井范昭 ,  长谷川清

IPC分类号： G01N23/223

摘要： 荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置。在利用了荧光X射线分析的有害元素的质量管理中，对样本分析所需的时间进行优化并实现判断的自动化。作为解决手段，提供如下的X射线分析方法和采用了该方法的X射线分析装置：将多个分析条件和对象元素的管理基准作为一组测定，能够设定将最初的组设为简易分析、将之后的组设为精密分析的多个组的测定，在组之间设置判断步骤，判断是否需要下一组的测定。

公开(公告)号：CN105259196A

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201510393954.8

申请日：2015-07-07

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/2204 ,  G01N35/00693 ,  G01N35/00732 ,  G01N2035/00702 ,  G01N2223/079 ,  G01N2223/309 ,  G01T7/12

摘要： 本发明提供X射线分析用试样板以及荧光X射线分析装置，在荧光X射线分析中能够提高试样测定的作业性并且能够抑制差错的发生。该X射线分析用试样板(1)，其固定有利用荧光X射线分析装置进行分析时的试样(S)，该X射线分析用试样板具备试样和支承试样的板状主体(2)，板状主体具有代码显示部(3)，其是至少对关于试样的信息进行编码后显示的。另外，该荧光X射线分析装置具备：X射线管球，其对试样照射一次X射线；检测器，其检测由被照射了一次X射线的试样发生的荧光X射线；试样台，其设置X射线分析用试样板；摄像单元，其对代码显示部进行摄像；以及代码处理部，其对摄像单元所摄像的、基于代码显示部编码的代码显示部的信息进行解码。

公开(公告)号：CN104076051A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201410111443.8

申请日：2014-03-24

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博 ,  长谷川清 ,  的场吉毅

IPC分类号： G01N23/223

CPC分类号： G01N23/223 ,  G01N2223/317 ,  G01N2223/652

摘要： 本发明提供荧光X射线分析装置，其能够检测载置于落下防止板上的异物。该荧光X射线分析装置具有：试样台，其在X射线照射位置处具有孔部，能够在孔部上设置试样；X射线源，其从下方对试样照射原级X射线（X1）；检测器，其相对于孔部配置在下方，对从被照射原级X射线的试样产生的荧光X射线（X2）进行检测；透明的落下防止板，其以能够进退的方式支承在孔部的正下方；驱动机构，其使落下防止板进退；观察用照相机，其设置在孔部的下方，能够对位于孔部的正下方时的落下防止板进行观察；以及运算部，其对由观察用照相机拍摄到的落下防止板的图像进行处理，运算部根据落下防止板移动或振动前后的图像的差分，检测落下防止板上的异物。

公开(公告)号：CN110031582B

公开(公告)日：2023-04-28

申请号：CN201811337884.4

申请日：2018-11-12

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博 ,  的场吉毅

IPC分类号： G01N30/88

摘要： 本发明提供一种质量分析装置和质量分析方法，其在不使装置大型化的情况下提高对包含夹杂物等第2物质的第1物质的检测精度，并且能够缩短测定时间。一种对试样进行分析的质量分析装置(110)，该试样包含由有机化合物构成的第1物质、和由有机化合物构成且质谱的峰与第1物质重叠的1种以上的第2物质，该质量分析装置具备峰校正部(217)，该峰校正部基于各第2物质的标准物质的质谱的峰中与第1物质的质谱的峰不重叠的峰A和与第1物质的峰重叠的峰B的非线性的强度的关系F，从试样中的第1物质的质谱的峰C的强度中减去由峰A的强度和关系F在每一规定时间间隔算出的峰B的推定强度的总和，算出第1物质的质谱的净值的峰D的强度。

公开(公告)号：CN110031582A

公开(公告)日：2019-07-19

申请号：CN201811337884.4

申请日：2018-11-12

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博 ,  的场吉毅

IPC分类号： G01N30/88

摘要： 本发明提供一种质量分析装置和质量分析方法，其在不使装置大型化的情况下提高对包含夹杂物等第2物质的第1物质的检测精度，并且能够缩短测定时间。一种对试样进行分析的质量分析装置(110)，该试样包含由有机化合物构成的第1物质、和由有机化合物构成且质谱的峰与第1物质重叠的1种以上的第2物质，该质量分析装置具备峰校正部(217)，该峰校正部基于各第2物质的标准物质的质谱的峰中与第1物质的质谱的峰不重叠的峰A和与第1物质的峰重叠的峰B的非线性的强度的关系F，从试样中的第1物质的质谱的峰C的强度中减去由峰A的强度和关系F在每一规定时间间隔算出的峰B的推定强度的总和，算出第1物质的质谱的净值的峰D的强度。

公开(公告)号：CN103308539B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201310077549.6

申请日：2013-03-12

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博

IPC分类号： G01N23/223

摘要： 荧光X射线分析装置和荧光X射线分析方法。本发明的目的是提供如下功能：关于在测定中发生了移动的试样，根据试样图像的变化而自动检测发生了移动的情况。作为解决手段，具有拍摄被测定物的试样图像的摄像部，具有临时保存测定开始时刻的试样图像并与测定中或测定后的最新的试样图像进行比较的功能，还具有如下功能：如果图像处理的结果是差分为阈值以上，则通过显示部、蜂鸣音、信号塔、向远程管理终端的通知，对测定者发出警告。

公开(公告)号：CN109283265B

公开(公告)日：2023-02-28

申请号：CN201810781274.7

申请日：2018-07-17

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博 ,  大川真 ,  的场吉毅

IPC分类号： G01N30/02

摘要： 提供质量分析装置和质量分析方法，能够提高包含杂质等第二物质在内的第一物质的检测精度并且缩短测定时间而不会使装置大型化。质量分析装置(110)对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置(110)的特征在于，其具有峰校正部(217)，当设各第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与第一物质的峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部(217)从试样中的第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算第一物质的质谱的净峰D的强度。

公开(公告)号：CN109283267A

公开(公告)日：2019-01-29

申请号：CN201810800962.3

申请日：2018-07-20

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博

IPC分类号： G01N30/02

摘要： 提供谱数据处理装置和谱数据处理方法，能够以二维的方式在视觉上容易地掌握三维的谱数据的时间、信号强度以及规定的参数之间的关系。一种谱数据处理装置(210)，其根据具有时间、信号强度以及规定的参数的三维谱数据而将特定的谱显示于显示部(220)，其中，该谱数据处理装置具有：二维谱计算部(217)，其根据谱数据，将每个时间的信号强度累加，计算信号强度和参数的二维谱(MS)；信号强度时间变化计算部(218)，其根据谱数据，按照每个参数来计算信号强度的时间变化(TC)；以及显示控制部(219)，其使显示部显示二维谱，并且，将信号强度的时间变化以参数与二维谱的参数一致、且时间沿着二维谱的信号强度的轴的形态进行重叠显示。

公开(公告)号：CN109283265A

公开(公告)日：2019-01-29

申请号：CN201810781274.7

申请日：2018-07-17

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博 ,  大川真 ,  的场吉毅

IPC分类号： G01N30/02

CPC分类号： H01J49/0036 ,  H01J49/10 ,  H01J49/4215 ,  G01N30/02

摘要： 提供质量分析装置和质量分析方法，能够提高包含杂质等第二物质在内的第一物质的检测精度并且缩短测定时间而不会使装置大型化。质量分析装置(110)对含有第一物质和一种以上的第二物质的试样进行分析，所述第一物质由有机化合物构成，所述第二物质由有机化合物构成并且质谱的峰与第一物质的质谱的峰重叠，该质量分析装置(110)的特征在于，其具有峰校正部(217)，当设各第二物质的标准物质的质谱的峰中的、不与第一物质的质谱的峰重叠的峰A和与第一物质的峰重叠的峰B的强度比(峰B)/(峰A)为校正系数W时，该峰校正部(217)从试样中的第一物质的质谱的峰C的强度减去W×(峰A的强度)来计算第一物质的质谱的净峰D的强度。

公开(公告)号：CN109283238B

公开(公告)日：2023-02-28

申请号：CN201810788020.8

申请日：2018-07-18

申请人： 日本株式会社日立高新技术科学

发明人： 佐久田昌博

IPC分类号： G01N27/62

摘要： 提供质量分析装置和质量分析方法，能够在视觉上清晰地识别质量分析困难的副成分有无存在。一种质量分析装置(110)，其具有显示部(220)，并且对含有测定物质的试样进行分析，其中，质量分析装置(110)还具有：存储部(215)，其存储针对测定物质的质谱的区域进行计算而求取的理论峰(T)；一致度计算部(217)，其根据区域内的试样的质谱(N)与理论峰各自所具有的多个峰来计算表示一致的程度的一致度；一致度显示控制部(219a)，其使显示部显示一致度；以及重叠显示控制部(219b)，其使显示部以质荷比一致的方式将试样的质谱和理论峰重叠显示。