表面缺陷的检测方法及其装置

    公开(公告)号:CN1149718A

    公开(公告)日:1997-05-14

    申请号:CN95102598.8

    申请日:1995-10-27

    IPC分类号: G01N21/88 G01B11/30

    摘要: 本发明的表面缺陷检查方法是:使偏振光照射在被检查表面上,求其反射光的椭圆偏振光参数(ψ、Δ);使光照射在与偏振光照射的同一部位,求其反射光强(I);根据上述参数(ψ、Δ)和光强(I),判定缺陷等级和种类。本发明的表面缺陷检测装置包括:使偏振光照射被检查表面,测定上述参数(ψ、Δ)的装置;使光照射与偏振光照射的同一部位,测定上述光强(I)的装置;将上述反射光的ψ、Δ、I的三维坐标位置划分成预定的范围并输出的装置。

    表面缺陷的检测方法及其装置

    公开(公告)号:CN1434289A

    公开(公告)日:2003-08-06

    申请号:CN02124788.9

    申请日:1995-10-27

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/21 G01B11/30

    摘要: 本发明的表面缺陷检查方法是:使偏振光照射在被检查表面上,求其反射光的椭圆偏振光参数(ψ、Δ);使光照射在与偏振光照射的同一部位,求其反射光强(I);根据上述参数(ψ、Δ)和光强(I),判定缺陷等级和种类。本发明的表面缺陷检测装置包括:使偏振光照射被检查表面,测定上述参数(ψ、Δ)的装置;使光照射与偏振光照射的同一部位,测定上述光强(I)的装置;将上述反射光的ψ、Δ、I的三维坐标位置划分成预定的范围并输出的装置。

    表面缺陷的检测方法及其装置

    公开(公告)号:CN1099031C

    公开(公告)日:2003-01-15

    申请号:CN95102598.8

    申请日:1995-10-27

    IPC分类号: G01N21/88 G01J4/04 G01B11/30

    摘要: 本发明的表面缺陷检查方法是:使偏振光照射在被检查表面上,求其反射光的椭圆偏振光参数(ψ、Δ);使光照射在与偏振光照射的同一部位,求其反射光强(I);根据上述参数(ψ、Δ)和光强(I),判定缺陷等级和种类。本发明的表面缺陷检测装置包括:使偏振光照射被检查表面,测定上述参数(ψ、Δ)的装置;使光照射与偏振光照射的同一部位,测定上述光强(I)的装置;特上述反射光的ψ、Δ、I的三维坐标位置划分成预定的范围并输出的装置。