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公开(公告)号:CN1146729C
公开(公告)日:2004-04-21
申请号:CN96191317.7
申请日:1996-10-31
IPC: G01N27/83
CPC classification number: G01N27/82 , G01N27/9026 , G01N27/9033
Abstract: 提供了一种不减少初动就能高精度进行磁缺陷检测的磁传感器及使用该磁传感器的磁缺陷测试方法及装置。用于检测待检磁化主体的缺陷部分产生的磁通的磁传感器(50)包括:具有配置在待检的钢板(13)邻近区域上的磁极(51a、51b、51c)的E形铁芯(51);绕制在E形铁芯的中间磁极(51b)上、用于检测磁通量的测试线圈(52)。游离于E形磁传感器周围的外部磁场从E形铁芯(51)的相对侧磁极(51a、51c)通过,但不穿过E形铁芯的中间磁极(51b)。相应地,外部磁场不在测试线圈(52)中感应电压,测试线圈只检测缺陷部分引起的磁通量。因此,改善了相对于外部磁场的方向性,抑制了外部磁场引起的噪声电压的产生,提高了缺陷检测时的S/N。
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公开(公告)号:CN1169776A
公开(公告)日:1998-01-07
申请号:CN96191317.7
申请日:1996-10-31
IPC: G01N27/83
CPC classification number: G01N27/82 , G01N27/9026 , G01N27/9033
Abstract: 提供了一种不减少初动就能高精度进行磁缺陷检测的磁传感器及使用该磁传感器的磁缺陷测试方法及装置。用于检测待检磁化主体的缺陷部分产生的磁通的磁传感器50包括:具有配置在待检的钢板(13)邻近区域上的磁极(51a、51b、51c)的E形铁芯51;绕制在E形铁芯的中间磁极(51b)上、用于检测磁通量的测试线圈(52)。游离于E形磁传感器周围的外部磁场从E形铁芯51的相对侧磁极(51a、51c)通过,但不穿过E形铁芯的中间磁极(51b)。相应地,外部磁场不在测试线圈(52)中感应电压,测试线圈只检测缺陷部分引起的磁通量。因此,改善了相对于外部磁场的方向性,抑制了外部磁场引起的噪声电压的产生,提高了缺陷检测时的S/N。
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