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公开(公告)号：CN101996543B
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201010268187.5
申请日：2010-08-25
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能以低价的手段高精度地检测缺陷像素的地址的缺陷像素检测方法和装置。其使用可以对作为检查对象的显示面板的一部分进行拍摄的、能够移动的拍摄装置，使该拍摄装置移动对被发现的缺陷像素进行拍摄，根据在被拍摄的图像上确定了缺陷像素的位置时的该拍摄装置的移动距离和与作为检查对象的显示面板的像素尺寸以及有关该排列形态的信息，来求出缺陷像素的地址。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108778967B
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN201780014705.0
申请日：2017-02-16
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种片材分离装置(100)。该片材分离装置包括：具有用于配置层叠起来的多张片材的配置面(10a)的主体部(10)、突出于配置面(10a)并配置在片材(50)的端部的凸部(11)、以及配置在主体部(10)上的磁路(20)。其中，磁路(20)具有：多个永久磁铁(21)，其沿配置面内的X方向并排设置，且配置成相邻的同极之间彼此相对；第一磁轭(22)，其配置在多个永久磁铁(21)之间；多个非磁性材料(24)，其配置在多个永久磁铁(21)与片材(50)之间；以及第二磁轭(23)，其配置在多个非磁性材料(24)之间。
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公开(公告)号：CN109075372A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201780022118.6
申请日：2017-03-15
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
IPC: H01M10/04
Abstract: 本发明涉及的片材层叠夹具具备：片材保持部(160)，其具有保持片材的片材保持侧面(160a)，且按照片材保持侧面(160a)朝向工作空间(A)的方式配置于工作台(101)上；电极保持部(102)，其具有保持电极的电极保持侧面(102a)，且按照电极保持侧面(102a)朝向工作空间(A)的方式配置于工作台(101)上；片材保持引导件(106)，其沿着片材保持侧面(160a)而保持多个片材(50)；电极保持引导件(103)，其沿着电极保持侧面(102a)而保持电极(30)；以及磁路(20)，其产生使片材(50)间产生间隙的磁力。
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公开(公告)号：CN109564245A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201780048540.9
申请日：2017-07-24
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 根据本发明的探针卡(100)检查具有多个焊盘(51)的工件(50)。探针卡(100)具有：平面二次电池(10)，其包括平面电极(22)并且设置成使得平面电极(22)面对工件(50)；以及设置在工件(50)和二次电池(10)之间的电连接体(30)。二次电池(10)具有能够在任意位置从平面电极(22)引出布线的结构。电连接体(30)具有朝向所面对的焊盘(51)突出的多个触头(31)；并且多个焊盘(51)和平面电极(22)通过多个触头(31)彼此电连接。
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公开(公告)号：CN108778967A
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201780014705.0
申请日：2017-02-16
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种片材分离装置(100)。该片材分离装置包括：具有用于配置层叠起来的多张片材的配置面(10a)的主体部(10)、突出于配置面(10a)并配置在片材(50)的端部的凸部(11)、以及配置在主体部(10)上的磁路(20)。其中，磁路(20)具有：多个永久磁铁(21)，其沿配置面内的X方向并排设置，且配置成相邻的同极之间彼此相对；第一磁轭(22)，其配置在多个永久磁铁(21)之间；多个非磁性材料(24)，其配置在多个永久磁铁(21)与片材(50)之间；以及第二磁轭(23)，其配置在多个非磁性材料(24)之间。
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公开(公告)号：CN101996543A
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN201010268187.5
申请日：2010-08-25
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
Abstract: 本发明的目的在于提供一种能以低价的手段高精度地检测缺陷像素的地址的缺陷像素检测方法和装置。其使用可以对作为检查对象的显示面板的一部分进行拍摄的、能够移动的拍摄装置，使该拍摄装置移动对被发现的缺陷像素进行拍摄，根据在被拍摄的图像上确定了缺陷像素的位置时的该拍摄装置的移动距离和与作为检查对象的显示面板的像素尺寸以及有关该排列形态的信息，来求出缺陷像素的地址。
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