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公开(公告)号:CN102290078A
公开(公告)日:2011-12-21
申请号:CN201110207964.X
申请日:2011-06-09
申请人: 昭和电工株式会社
CPC分类号: G11B5/84 , G11B5/024 , G11B5/455 , G11B20/1816 , G11B2020/1826 , G11B2220/2516
摘要: 本发明提供一种磁记录介质的检查方法和制造方法、磁记录再现装置的控制方法及磁记录再现装置。通过对磁记录再现磁道写入高频信号、接着检测进行了DC擦除或AC擦除后的冒脉冲再现信号,或通过对磁记录再现磁道写入高频信号、检测漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号,从而确定具有微小突起的磁记录再现磁道,一边进行控制一边使磁头移动以使得回避读写该磁记录再现磁道的信息。通过采用该方法,提高了磁记录再现装置的可靠性和寿命。
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公开(公告)号:CN102290078B
公开(公告)日:2015-03-25
申请号:CN201110207964.X
申请日:2011-06-09
申请人: 昭和电工株式会社
CPC分类号: G11B5/84 , G11B5/024 , G11B5/455 , G11B20/1816 , G11B2020/1826 , G11B2220/2516
摘要: 本发明提供一种磁记录介质的检查方法和制造方法、磁记录再现装置的控制方法及磁记录再现装置。通过对磁记录再现磁道写入高频信号、接着检测进行了DC擦除或AC擦除后的冒脉冲再现信号,或通过对磁记录再现磁道写入高频信号、检测漏脉冲和尖峰脉冲的并发再现信号,从而确定具有微小突起的磁记录再现磁道,一边进行控制一边使磁头移动以使得回避读写该磁记录再现磁道的信息。通过采用该方法,提高了磁记录再现装置的可靠性和寿命。
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