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公开(公告)号：CN115390194B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202211125562.X
申请日：2022-09-16
申请人： 暨南大学 , 中国船舶重工集团公司第七0七研究所
摘要： 本发明公开了一种内部气压可调控的小型化空芯光纤气体腔连接装置，该装置包括组件A和组件B；组件A通过空芯光纤连接组件B，组件A的十字型管上下端口分别连接第一气嘴和第二气嘴，左右端口用于光纤的进出；第一气嘴连接充放气装置，向气体腔和空芯光纤纤芯充入或抽出目标气体；第二气嘴连接第一气压表，监控气体腔内部气体的气压；组件B的第一T型管上端口与气囊连接，左右端口用于光纤的进出；气囊保持整个装置内部的气压在温度变化过程中与外界一致，第一光纤对接装置和第二光纤对接装置将两端的光纤进行对接；本发明结合组件A和组件B，可实现低损耗光纤对接和空芯光纤内部气体控制，有利于在短距离和长距离光纤链路中实现超低温度敏感性的光信号传输。
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公开(公告)号：CN115390194A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202211125562.X
申请日：2022-09-16
申请人： 暨南大学 , 中国船舶重工集团公司第七0七研究所
摘要： 本发明公开了一种内部气压可调控的小型化空芯光纤气体腔连接装置，该装置包括组件A和组件B；组件A通过空芯光纤连接组件B，组件A的十字型管上下端口分别连接第一气嘴和第二气嘴，左右端口用于光纤的进出；第一气嘴连接充放气装置，向气体腔和空芯光纤纤芯充入或抽出目标气体；第二气嘴连接第一气压表，监控气体腔内部气体的气压；组件B的第一T型管上端口与气囊连接，左右端口用于光纤的进出；气囊保持整个装置内部的气压在温度变化过程中与外界一致，第一光纤对接装置和第二光纤对接装置将两端的光纤进行对接；本发明结合组件A和组件B，可实现低损耗光纤对接和空芯光纤内部气体控制，有利于在短距离和长距离光纤链路中实现超低温度敏感性的光信号传输。
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公开(公告)号：CN112197941A
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN202010978883.9
申请日：2020-09-17
申请人： 暨南大学
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开了一种在片上波导上的原位损耗测量装置及方法，该方法步骤包括：搭建在片上波导上的原位损耗测量装置，调节光路使激光端面耦合进入波导中，将抖动的探针放置到待测波导某位置的中心处；抖动的探针与片上波导中的导模倏逝场相互重叠后，产生调制信号光，调制信号光为第一信号光和第二信号光的叠加；扫频激光器扫频，提取锁相放大器的解调信号；对该位置的解调信号进行傅里叶分析，得出探针的位置和该位置的相对振幅，相对振幅为第一信号光和第二信号光振幅的比值；根据具体需要测量的损耗类型选择探针需要摆放的位置，根据每个位置分析得到的探针位置和对应的相对光强信息，计算相应的损耗。本发明保证对任意尺寸的波导和任意复杂度的片上光子回路进行损耗特性原位测量的可能性。
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公开(公告)号：CN117191344A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202310974607.9
申请日：2023-08-03
申请人： 暨南大学
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开了一种光纤的侧向分布式检测装置及方法，该装置包括：单频激光器、积分球、光探测器、数据采集卡、处理终端以及线盘；待测的空芯光纤两端分别盘绕在一个线盘上，两个线盘之间的空芯光纤穿过积分球；单频激光器输出的激光通入实心光纤，实心光纤与待测的空芯光纤一端相连；光探测器用于探测空芯光纤在积分球内泄漏的光信号，光探测器将光信号转化为光电流后传入与之相连的数据采集卡，并实时传输给处理终端。本发明可以实现高灵敏度、高分辨率的无损检测，实现对传输损耗的测量和缺陷位置的标定。此外，利用泄漏光的偏振特性，还可以测量反谐振空芯光纤的相双折射系数。
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公开(公告)号：CN112197941B
公开(公告)日：2022-06-21
申请号：CN202010978883.9
申请日：2020-09-17
申请人： 暨南大学
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明公开了一种在片上波导上的原位损耗测量装置及方法，该方法步骤包括：搭建在片上波导上的原位损耗测量装置，调节光路使激光端面耦合进入波导中，将抖动的探针放置到待测波导某位置的中心处；抖动的探针与片上波导中的导模倏逝场相互重叠后，产生调制信号光，调制信号光为第一信号光和第二信号光的叠加；扫频激光器扫频，提取锁相放大器的解调信号；对该位置的解调信号进行傅里叶分析，得出探针的位置和该位置的相对振幅，相对振幅为第一信号光和第二信号光振幅的比值；根据具体需要测量的损耗类型选择探针需要摆放的位置，根据每个位置分析得到的探针位置和对应的相对光强信息，计算相应的损耗。本发明保证对任意尺寸的波导和任意复杂度的片上光子回路进行损耗特性原位测量的可能性。
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