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公开(公告)号：CN105891620A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201410653648.9
申请日：2014-11-17
Applicant: 机械工业仪器仪表综合技术经济研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种可用于测试CMC芯片电磁兼容辐射特性的测试系统，该系统包括：测试电路板，电流探头，阻抗转换网络以及放大器和频谱仪，其特征在于，该系统的测试对象为CMC芯片，通过测试射频电流和射频电压，进而得出芯片整体的辐射特性，测试系统的频率范围为150kHz?1GHz，测试系统构建方便简单，系统设计轻便。
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