一种响应率测试方法及装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117949098A

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202410350392.8

    申请日:2024-03-25

    IPC分类号: G01J5/53 G01J5/90 G01V13/00

    摘要: 本申请提供一种响应率测试方法及装置,该方法包括:获取探测器的目标高温信号,目标高温信号与第一黑体温度匹配,目标高温信号是黑体直接照射探测器时由探测器采集;获取探测器的目标低温信号,目标低温信号与黑体衰减温度匹配,目标低温信号是目标滤光片位于黑体与探测器之间时由探测器采集;确定第一黑体温度与黑体衰减温度之间的目标温度差;基于目标高温信号、目标低温信号和目标温度差确定探测器的目标响应率,目标响应率表示每单位温差产生的输出信号。通过本申请方案,有效测试探测器的目标响应率,基于辐射能量差实现探测器的响应率测试,减小测量误差,提高测试效率。

    一种响应率测试方法及装置

    公开(公告)号:CN117949098B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202410350392.8

    申请日:2024-03-25

    IPC分类号: G01J5/53 G01J5/90 G01V13/00

    摘要: 本申请提供一种响应率测试方法及装置,该方法包括:获取探测器的目标高温信号,目标高温信号与第一黑体温度匹配,目标高温信号是黑体直接照射探测器时由探测器采集;获取探测器的目标低温信号,目标低温信号与黑体衰减温度匹配,目标低温信号是目标滤光片位于黑体与探测器之间时由探测器采集;确定第一黑体温度与黑体衰减温度之间的目标温度差;基于目标高温信号、目标低温信号和目标温度差确定探测器的目标响应率,目标响应率表示每单位温差产生的输出信号。通过本申请方案,有效测试探测器的目标响应率,基于辐射能量差实现探测器的响应率测试,减小测量误差,提高测试效率。