公开(公告)号：CN1595124A

公开(公告)日：2005-03-16

申请号：CN200410088251.6

申请日：2004-08-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 市原胜 ,  吉野信治 ,  井上博之 ,  木下俊生 ,  大内一生

IPC: G01N23/04 ,  H05G1/26 ,  H05G1/08 ,  H05G1/02

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/6113

Abstract: 本发明的X射线检查装置和X射线检查方法是这样构成的，保持被来自X射线照射装置的X射照射的检查对象物，使用进行向任意角度和任意方向倾斜的摇动动作的摇动装置，在X射线检出装置中摄像通过检查对象物的X射线，在控制装置中，从来自X射线检出装置的X射线图像抽出任意断层面的数据。

公开(公告)号：CN1595124B

公开(公告)日：2011-08-10

申请号：CN200410088251.6

申请日：2004-08-27

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 市原胜 ,  吉野信治 ,  井上博之 ,  木下俊生 ,  大内一生

IPC: G01N23/04 ,  H05G1/26 ,  H05G1/08 ,  H05G1/02

CPC classification number: G01N23/046 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/6113

Abstract: 本发明的X射线检查装置和X射线检查方法是这样构成的，保持被来自X射线照射装置的X射照射的检查对象物，使用进行向任意角度和任意方向倾斜的摇动动作的摇动装置，在X射线检出装置中摄像通过检查对象物的X射线，在控制装置中，从来自X射线检出装置的X射线图像抽出任意断层面的数据。