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公开(公告)号：CN1163390A
公开(公告)日：1997-10-29
申请号：CN97102342.5
申请日：1997-01-23
申请人： 松下电器产业株式会社
IPC分类号： G01B5/14
摘要： 本发明提供精密测定一个像素的平均实际空间长度的方法，还提供测定或调整摄像范围，测定图像畸变及按其结果修正图像畸变的光学系统校正方法，在栅像检查区域的任意区域，计算摄像装置各像素列的栅线数平均值，乘以栅间距得出规定方向上的所述任意区域的实际空间长度。将其除以该方向上的像素数目，得出栅像中一个像素的平均实际空间长度。以此可以计算、调整摄像范围，计算所得图像的畸变分布和用其修正图像，能校正光学系统，进行精密测定。
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公开(公告)号：CN101356800A
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：CN200780001129.2
申请日：2007-03-20
申请人： 松下电器产业株式会社
CPC分类号： H04N5/772 , G11B27/034 , G11B27/105 , H04N9/8042 , H04N9/8205
摘要： 本发明提供了一种内容拍摄装置，能够按照拍摄状态对生成与拍摄图像相关的元数据的阈值进行校正。内容拍摄装置(Acc)，将内容数据(Dc)转换为流(AV)，并与该内容相关的元数据(Dm)结合起来记录于记录介质(214)中，其中，摄影机(101)拍摄被摄体(105)并生成内容数据(Dc)，摄影机操作统计部(206s)检测摄影机的运动(σ)，摄影机微机(206)通过将检测出的运动(σ)与规定值(Th)比较而生成元数据(Dm)，阈值自动设置部(206t)根据检测出的运动(σ)，变更规定值(Th)。
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公开(公告)号：CN1404034A
公开(公告)日：2003-03-19
申请号：CN01125279.0
申请日：1997-01-23
申请人： 松下电器产业株式会社
IPC分类号： G11B5/00
摘要： 本发明涉及磁记录磁道检查装置用的基准规。这种基准规是对磁录放装置所记录且进行过可视化处理的磁带上磁记录磁道的磁道图案，用摄像装置进行摄像、检查的磁记录磁道检查装置用的基准规。在其表面具有作为该基准规的坐标系的基准的线图，和以等间距描画成相对于所述线图的基准方向具有规定的角度的栅图。所述线图和所述栅图具有的厚度，使得在磁记录磁道检查装置上设置时它们的表面与在磁记录磁道检查装置上设置磁带时该磁带上表面的高度位置实质上相等。
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公开(公告)号：CN101356800B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200780001129.2
申请日：2007-03-20
申请人： 松下电器产业株式会社
CPC分类号： H04N5/772 , G11B27/034 , G11B27/105 , H04N9/8042 , H04N9/8205
摘要： 本发明提供了一种内容拍摄装置，能够按照拍摄状态对生成与拍摄图像相关的元数据的阈值进行校正。内容拍摄装置(Acc)，将内容数据(Dc)转换为流(AV)，并与该内容相关的元数据(Dm)结合起来记录于记录介质(214)中，其中，摄影机(101)拍摄被摄体(105)并生成内容数据(Dc)，摄影机操作统计部(206s)检测摄影机的运动(σ)，摄影机微机(206)通过将检测出的运动(σ)与规定值(Th)比较而生成元数据(Dm)，阈值自动设置部(206t)根据检测出的运动(σ)，变更规定值(Th)。
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公开(公告)号：CN100401376C
公开(公告)日：2008-07-09
申请号：CN01125279.0
申请日：1997-01-23
申请人： 松下电器产业株式会社
IPC分类号： G11B5/00
摘要： 本发明涉及磁记录磁道检查装置用的基准规。这种基准规是对磁录放装置所记录且进行过可视化处理的磁带上磁记录磁道的磁道图案，用摄像装置进行摄像、检查的磁记录磁道检查装置用的基准规。在其表面具有作为该基准规的坐标系的基准的线图，和以等间距描画成相对于所述线图的基准方向具有规定的角度的栅图。所述线图和所述栅图具有的厚度，使得在磁记录磁道检查装置上设置时它们的表面与在磁记录磁道检查装置上设置磁带时该磁带上表面的高度位置实质上相等。
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公开(公告)号：CN1090796C
公开(公告)日：2002-09-11
申请号：CN97102342.5
申请日：1997-01-23
申请人： 松下电器产业株式会社
摘要： 本发明提供精密测定一个像素的平均实际空间长度的方法，还提供测定或调整摄像范围，测定图像畸变及按其结果修正图像畸变的光学系统校正方法，在栅像检查区域的任意区域，计算摄像装置各像素列的栅线数平均值，乘以栅间距得出规定方向上的所述任意区域的实际空间长度。将其除以该方向上的像素数目，得出栅像中一个像素的平均实际空间长度。以此可以计算、调整摄像范围，计算所得图像的畸变分布和用其修正图像，能校正光学系统，进行精密测定。
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