公开(公告)号：CN113155053A

公开(公告)日：2021-07-23

申请号：CN202110056495.X

申请日：2021-01-15

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薫

IPC: G01B11/24

Abstract: 一种三维几何形状测量装置100，包括：虚拟坐标识别部402，其通过将参考仪器上的特征点虚拟投影到拍摄器件的像面上来识别与像面中的特征点相对应的虚拟拍摄像素的坐标；校正部403，其生成用于校正测量目标拍摄图像中包括的测量目标拍摄像素的坐标的校正信息；以及几何形状识别部405，其基于几何特性信息和校正信息，来校正通过用拍摄器件拍摄测量对象而生成的测量目标拍摄图像中包括的多个测量目标拍摄像素的坐标，并且基于基于测量目标拍摄像素的坐标而计算的测量三维坐标来识别测量对象的几何形状。

公开(公告)号：CN113029038A

公开(公告)日：2021-06-25

申请号：CN202011387758.7

申请日：2020-12-01

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薫

IPC: G01B11/25

Abstract: 一种三维几何形状测量装置，包括：初步测量部412，其产生指示参考仪器上的参考点的三维坐标的多个初步测量数据；参考数据产生部43，其产生参考数据；计算部44，其基于参考数据和与参考数据不匹配的初步测量数据，来计算校正值；目标测量部411，其产生指示对测量对象的测量点进行测量的结果的目标测量数据；校正部45，其基于校正值校正与不匹配参考数据的初步测量数据对应的测量系统中的目标测量数据；以及几何形状识别部46，其使用校正后的目标测量数据来识别测量对象的几何形状。

公开(公告)号：CN119437084A

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202410980454.3

申请日：2024-07-22

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薫

IPC: G01B11/25

Abstract: 本发明涉及一种三维几何形状测量设备、三维几何形状测量方法、存储介质和计算机程序产品。该三维几何形状测量设备(100)和(300)包括：第一识别部(541)，用于识别与第一摄像部(3)的多个像素中的各像素相对应的一次绝对相位值；第二识别部(542)，用于识别与第二摄像部(4)的多个像素中的各像素相对应的二次绝对相位值；转换识别部(55)，用于识别用于对一次坐标或二次坐标进行转换的转换值；以及几何形状识别部(56)，用于基于转换值来对一次坐标或二次坐标进行转换，并且基于转换后的坐标来识别待测量对象的三维几何形状。

公开(公告)号：CN110906884B

公开(公告)日：2023-02-24

申请号：CN201910863067.0

申请日：2019-09-12

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薫

IPC: G01B11/25

Abstract: 本发明提供三维几何形状测量设备和三维几何形状测量方法。三维几何形状测量设备包括：投影部(1)，用于将投影图像投影到待测量对象上；摄像部(2)，用于通过拍摄投影有所述投影图像的待测量对象生成拍摄图像；关系识别部(302)，用于识别与拍摄像素位置具有对应关系的投影像素位置；以及不良像素判断部(303)，用于基于从投影部(1)开始并通过投影像素位置处的像素的投影光束与从摄像部(2)开始并通过具有所述对应关系的拍摄像素位置处的像素的拍摄光束之间的位置关系来判断拍摄像素位置处的像素是否是不良像素。

公开(公告)号：CN113155053B

公开(公告)日：2024-09-06

申请号：CN202110056495.X

申请日：2021-01-15

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薫

IPC: G01B11/24

Abstract: 一种三维几何形状测量装置100，包括：虚拟坐标识别部402，其通过将参考仪器上的特征点虚拟投影到拍摄器件的像面上来识别与像面中的特征点相对应的虚拟拍摄像素的坐标；校正部403，其生成用于校正测量目标拍摄图像中包括的测量目标拍摄像素的坐标的校正信息；以及几何形状识别部405，其基于几何特性信息和校正信息，来校正通过用拍摄器件拍摄测量对象而生成的测量目标拍摄图像中包括的多个测量目标拍摄像素的坐标，并且基于基于测量目标拍摄像素的坐标而计算的测量三维坐标来识别测量对象的几何形状。

公开(公告)号：CN110906884A

公开(公告)日：2020-03-24

申请号：CN201910863067.0

申请日：2019-09-12

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 宫田薫

IPC: G01B11/25

Abstract: 本发明提供三维几何形状测量设备和三维几何形状测量方法。三维几何形状测量设备包括：投影部(1)，用于将投影图像投影到待测量对象上；摄像部(2)，用于通过拍摄投影有所述投影图像的待测量对象生成拍摄图像；关系识别部(302)，用于识别与拍摄像素位置具有对应关系的投影像素位置；以及不良像素判断部(303)，用于基于从投影部(1)开始并通过投影像素位置处的像素的投影光束与从摄像部(2)开始并通过具有所述对应关系的拍摄像素位置处的像素的拍摄光束之间的位置关系来判断拍摄像素位置处的像素是否是不良像素。