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公开(公告)号：CN119533356A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411210498.4
申请日：2024-08-30
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供了一种使便宜且易于使用的接触型测量装置自动化的自动测量设备。自动测量设备包括：测量装置，其包括可移动元件和位移检测部，该可移动元件可相对于固定元件移位并向前和向后移动以接触或远离工件，该位移检测部检测可移动元件的位移或位置；以及自动操作部，其通过动力使可移动元件的向前/向后移动自动化。当可移动元件与工件接触时，以通过改变工件和测量装置之间的相对位置和姿势而使工件和测量装置的接触面彼此紧密接触的方式，将振动直接或间接地施加到工件和测量装置中的至少一个上。
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公开(公告)号：CN116804543A
公开(公告)日：2023-09-26
申请号：CN202310290327.6
申请日：2023-03-23
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供了自动内径测量设备的控制方法和自动测量设备的控制方法。提供了能够自动进行内径测量的内径测量单元和用于自动内径测量的控制方法。内径测量部经由浮动接合部被支撑框架部支撑。浮动接合部包括允许内径测量部相对于支撑框架部旋转的旋转允许机构部以及允许内径测量部相对于支撑框架部平移位移的平移允许机构部。内径测量部的测量头部通过机器臂部插入孔中。内径测量部通过接触点推抵孔的内壁的反作用力自主地调整内径测量部的位置和姿态，以使内径测量部的轴线与孔的轴线对准。电动内径测量单元(电动内径测量装置和机器臂部)能够自动地测量孔的内径。
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公开(公告)号：CN118730177A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410193374.3
申请日：2024-02-21
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供位移测量仪器，其消除通过使测量元件以不适当的接近与待测量对象接触而获得的测量值并可靠获得高精度测量值。位移测量仪器包括：编码器，其在测量元件与待测量对象的表面接触期间以测量元件的移动方向作为测量方向来检测测量元件的移动位移量；计算单元，其至少根据移动位移量来计算测量值；显示单元，其至少显示测量值。计算单元包括：测量部，其根据移动位移量来计算测量值并在显示单元上显示测量值；速度获取部获取测量仪器的速度；接近分析部，其基于在紧挨在测量仪器停止之前的预定时段期间的速度的转变，来分析和判断测量仪器向待测量对象的接近是适当还是不适当；警告部，其在判断为测量元件向待测量对象的接近不适当时发出警告。
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公开(公告)号：CN117470153A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202310930635.0
申请日：2023-07-27
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供自动测量装置及其控制方法，该自动测量装置包括测微计、位移检测器单元以及自动操作单元，测微计包括前后移动以与工件接触或离开工件的主轴，位移检测器单元检测主轴的位移，自动操作单元通过动力来使主轴的前后移动自动化。自动操作单元执行使主轴前进以使主轴与工件接触的第一前进步骤，以及在第一前进步骤中对主轴与工件之间的接触进行判定的接触判定步骤。在接触判定步骤中，当位移检测器单元在第一前进步骤中检测到的主轴的位置变化等于或小于预定的接触判定阈值时，判定主轴与工件接触。
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