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公开(公告)号：CN107687809B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201710644767.1
申请日：2017-07-31
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明的基于跟踪式激光干涉仪的定位机械的检查方法，在通过使用激光束追随后向反射器的跟踪式激光干涉仪检查定位机械时，将通过定位机械(10)测定的测定点pi、pj的位置向量正交投影在通过跟踪式激光干涉仪(30)的旋转中心M的直线gk上所得的距离Δdij，C和通过跟踪式激光干涉仪(30)测定的距离Δdij，L进行比较，评价定位机械(10)的定位精度。由此，即使不严格地配置测定点，也可以高速、高精度地进行定位机械的检查。
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公开(公告)号：CN116929172A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310786376.9
申请日：2019-06-07
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: [问题]提供了一种数字千分尺，其适合于测量作为强磁体的待测对象物。[解决方案]该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部，测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持，被设置成能够相对于砧座在轴向上进退，并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。
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公开(公告)号：CN112352135B
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN201980039557.7
申请日：2019-06-07
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: [问题]提供了一种数字千分尺，其适合于测量作为强磁体的待测对象物。[解决方案]该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部，测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持，被设置成能够相对于砧座在轴向上进退，并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。
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公开(公告)号：CN109959333B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN201811532330.X
申请日：2018-12-14
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种空间精度校正方法和设备。该方法通过使用由激光干涉仪测量的可测量长度值和由定位机构测量的空间坐标的测量值来校正定位机构中的定位误差。该方法包括：测量步骤，其中将固定到移位器的后向反射器移动到多个测量点，并且获取各测量点处的测量长度值和测量值；以及参数计算步骤，其中基于测量值、测量长度值和追踪型激光干涉仪的转动中心的坐标来计算校正参数。针对各测量线向测量长度值应用第一校正常数，并且针对各测量线向干涉仪的转动中心的坐标应用与第一校正常数不同的第二校正常数。
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公开(公告)号：CN112352135A
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201980039557.7
申请日：2019-06-07
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 提供了一种数字千分尺，其适合于测量作为强磁体的待测对象物。该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部，测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持，被设置成能够相对于砧座在轴向上进退，并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107687809A
公开(公告)日：2018-02-13
申请号：CN201710644767.1
申请日：2017-07-31
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明的基于跟踪式激光干涉仪的定位机械的检查方法，在通过使用激光束追随后向反射器的跟踪式激光干涉仪检查定位机械时，将通过定位机械(10)测定的测定点pi、pj的位置向量正交投影在通过跟踪式激光干涉仪(30)的旋转中心M的直线gk上所得的距离Δdij，C和通过跟踪式激光干涉仪(30)测定的距离Δdij，L进行比较，评价定位机械(10)的定位精度。由此，即使不严格地配置测定点，也可以高速、高精度地进行定位机械的检查。
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公开(公告)号：CN109974644B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN201811531591.X
申请日：2018-12-14
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/04
Abstract: 本发明提供一种空间精度校正方法和设备。该空间精度校正设备使用利用干涉仪测量的可测量长度值和利用用于将移动器移动到预定的一组空间坐标的定位器测量的移动体的一组空间坐标的可测量值来进行该定位器的空间精度校正。通过将移动体按顺序移动到多个测量点来获取各测量点的测量长度值和测量值，在多个测量点中的各测量点的测量长度值和测量值的测量之后对正在测量的多个测量点中的至少一个进行一次以上重复测量，并且在测量长度值的重复误差等于或大于阈值的情况下，再次测量多个点。
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公开(公告)号：CN109974644A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201811531591.X
申请日：2018-12-14
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/04
Abstract: 本发明提供一种空间精度校正方法和设备。该空间精度校正设备使用利用干涉仪测量的可测量长度值和利用用于将移动器移动到预定的一组空间坐标的定位器测量的移动体的一组空间坐标的可测量值来进行该定位器的空间精度校正。通过将移动体按顺序移动到多个测量点来获取各测量点的测量长度值和测量值，在多个测量点中的各测量点的测量长度值和测量值的测量之后对正在测量的多个测量点中的至少一个进行一次以上重复测量，并且在测量长度值的重复误差等于或大于阈值的情况下，再次测量多个点。
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公开(公告)号：CN109959333A
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201811532330.X
申请日：2018-12-14
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种空间精度校正方法和设备。该方法通过使用由激光干涉仪测量的可测量长度值和由定位机构测量的空间坐标的测量值来校正定位机构中的定位误差。该方法包括：测量步骤，其中将固定到移位器的后向反射器移动到多个测量点，并且获取各测量点处的测量长度值和测量值；以及参数计算步骤，其中基于测量值、测量长度值和追踪型激光干涉仪的转动中心的坐标来计算校正参数。针对各测量线向测量长度值应用第一校正常数，并且针对各测量线向干涉仪的转动中心的坐标应用与第一校正常数不同的第二校正常数。
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公开(公告)号：CN308862126S
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202330307966.X
申请日：2023-05-24
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 1.本外观设计产品的名称：连接电缆的连接端头。
2.本外观设计产品的用途：整体产品用于连接测定器（如测微计）和数据处理装置，将测定器的测定数据向数据处理装置输出，产品的局部是连接电缆的连接端头。
3.本外观设计产品的设计要点：在于图中实线部分的形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
5.其他需要说明的情形其他说明：图中的虚线部分是不请求保护的内容；图中的点划线是请求保护部分与不请求保护部分的分界线，图中电缆部采用了省略长度画法。
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