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公开(公告)号：CN104061878B
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201410098254.1
申请日：2014-03-17
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/00 , G01B11/2518
Abstract: 一种形状测量设备，包括：照射部，用于利用线状的线激光来照射工件，所述照射部包括：光源，用于产生光；以及光学元件，用于使来自所述光源的光线状地散开并且生成所述线激光，所述光学元件被构造成能够绕所述线激光的光轴进行转动；以及摄像部，用于对所述工件所反射的线激光进行摄像。
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公开(公告)号：CN111795642B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202010249528.8
申请日：2020-04-01
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种光学测量装置，包括：发射装置，配置为向物体发射光轴平行移动的扫描光；光接收元件，配置为对经过物体之后的扫描光进行光电转换；计算装置，配置为从由光接收元件输出的电信号的时间变化获得的电压波计算当扫描光的一部分对于时间范围被物体中断时与从相对于扫描光不被物体中断的电压值的第一边缘和相对于扫描光被物体中断的电压值的第二边缘的时间范围相对应的距离。
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公开(公告)号：CN104949620B
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201510145996.X
申请日：2015-03-30
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01B11/2504 , G01B11/08 , G01B11/2433 , G01B11/2518
Abstract: 用于光学测量装置的校正设备及校正方法。用于光学测量装置的校正设备为来自光学测量装置的光束的每个扫描位置获得校正数据，所述光学测量装置包括光束扫描部和光接收部，所述光束扫描部用光束扫描放置测量对象物用的测量区域，所述光接收部接收来自所述测量区域的透过光束。所述校正设备包括：透光性的刻度尺，其具有以预定节距配置的刻度标记；和支撑台，其构造成以所述刻度标记的配置方向为所述光束的扫描方向的方式将所述刻度尺安装于所述测量区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108731605B
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN201810305349.4
申请日：2018-04-08
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/08
Abstract: 公开了一种光学外径测量设备。能够提高测量精度的光学外径测量设备包括：旋转装置，配置为通过电机的驱动而旋转并将来自发光元件的光转换为扫描光；准直透镜，配置为将所述扫描光转换为平行扫描光；聚光透镜，配置为会聚穿过待测物体的平行扫描光；受光元件，配置为接收由所述聚光透镜会聚的光；壳体，配置为容纳所述旋转装置和准直透镜；以及光路盖，其在所述壳体中包括两个盖，所述盖在所述扫描光的扫描方向上延伸并且在两个盖之间隔着扫描光彼此相对地定位。
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公开(公告)号：CN111795642A
公开(公告)日：2020-10-20
申请号：CN202010249528.8
申请日：2020-04-01
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种光学测量装置，包括：发射装置，配置为向物体发射光轴平行移动的扫描光；光接收元件，配置为对经过物体之后的扫描光进行光电转换；计算装置，配置为从由光接收元件输出的电信号的时间变化获得的电压波计算当扫描光的一部分对于时间范围被物体中断时与从相对于扫描光不被物体中断的电压值的第一边缘和相对于扫描光被物体中断的电压值的第二边缘的时间范围相对应的距离。
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公开(公告)号：CN108731605A
公开(公告)日：2018-11-02
申请号：CN201810305349.4
申请日：2018-04-08
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/08
Abstract: 公开了一种光学外径测量设备。能够提高测量精度的光学外径测量设备包括：旋转装置，配置为通过电机的驱动而旋转并将来自发光元件的光转换为扫描光；准直透镜，配置为将所述扫描光转换为平行扫描光；聚光透镜，配置为会聚穿过待测物体的平行扫描光；受光元件，配置为接收由所述聚光透镜会聚的光；壳体，配置为容纳所述旋转装置和准直透镜；以及光路盖，其在所述壳体中包括两个盖，所述盖在所述扫描光的扫描方向上延伸并且在两个盖之间隔着扫描光彼此相对地定位。
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公开(公告)号：CN104949620A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201510145996.X
申请日：2015-03-30
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01B11/2504 , G01B11/08 , G01B11/2433 , G01B11/2518
Abstract: 用于光学测量装置的校正设备及校正方法。用于光学测量装置的校正设备为来自光学测量装置的光束的每个扫描位置获得校正数据，所述光学测量装置包括光束扫描部和光接收部，所述光束扫描部用光束扫描放置测量对象物用的测量区域，所述光接收部接收来自所述测量区域的透过光束。所述校正设备包括：透光性的刻度尺，其具有以预定节距配置的刻度标记；和支撑台，其构造成以所述刻度标记的配置方向为所述光束的扫描方向的方式将所述刻度尺安装于所述测量区域。
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公开(公告)号：CN104061878A
公开(公告)日：2014-09-24
申请号：CN201410098254.1
申请日：2014-03-17
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/00 , G01B11/2518
Abstract: 一种形状测量设备，包括：照射部，用于利用线状的线激光来照射工件，所述照射部包括：光源，用于产生光；以及光学元件，用于使来自所述光源的光线状地散开并且生成所述线激光，所述光学元件被构造成能够绕所述线激光的光轴进行转动；以及摄像部，用于对所述工件所反射的线激光进行摄像。
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