自动分析装置
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101858919A

    公开(公告)日:2010-10-13

    申请号:CN201010116522.X

    申请日:2010-02-10

    CPC classification number: G01N35/1011 G01N2035/1025

    Abstract: 本发明提供一种自动分析装置,将分离成多个层的被检试样中的目标层的成分从所载置的容器移送而进行分析,具备:分注探测器,下降到上述目标层内而吸引上述成分;检测部,对上述被检试样的目标层的层面的高度进行检测;计算部,计算出从上述目标层的层面算起的上述目标层的成分的合计含有量达到目标量为止的深度;以及控制部,在使上述分注探测器下降到上述计算部计算出的上述深度为止之后,使上述分注探测器吸引上述成分。

    自动分析装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101858919B

    公开(公告)日:2013-04-24

    申请号:CN201010116522.X

    申请日:2010-02-10

    CPC classification number: G01N35/1011 G01N2035/1025

    Abstract: 本发明提供一种自动分析装置,将分离成多个层的被检试样中的目标层的成分从所载置的容器移送而进行分析,具备:分注探测器,下降到上述目标层内而吸引上述成分;检测部,对上述被检试样的目标层的层面的高度进行检测;计算部,计算出从上述目标层的层面算起的上述目标层的成分的合计含有量达到目标量为止的深度;以及控制部,在使上述分注探测器下降到上述计算部计算出的上述深度为止之后,使上述分注探测器吸引上述成分。

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