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公开(公告)号：CN118688099A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202311162750.4
申请日：2023-09-08
申请人： 株式会社东芝 , 东芝情报系统株式会社
摘要： 本发明的实施方式涉及光学检查方法、存储有光学检查程序的存储介质以及光学检查装置。提供能够获取物体的信息的光学检查方法。根据实施方式，光学检查方法包括：利用波长选择部选择性地使来自物点的包括至少两个不同的波长谱的光通过，利用具有能够接受波长谱的光的至少两个颜色通道的拍摄部对物点进行拍摄；基于针对物点的至少两个颜色通道中的受光数据，使至少两个不同的波长谱的光成为分别具有不同的方向的信号向量；以及基于信号向量的方向，对物点处的光的方向分布的离散度进行推定处理。
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公开(公告)号：CN107616006B
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN201710504989.3
申请日：2017-06-28
申请人： 株式会社东芝 , 东芝生活电器株式会社
摘要： 本发明提供能够有效地照射近红外光储藏库及近红外光照射单元。实施方式的储藏库具有储藏库主体和近红外光照射部。上述储藏库主体，具有能够储藏植物的储藏部。上述近红外光照射部具有朝向上述储藏部的内部的至少一部分区域改变光的配光角的光配光部，将中心波长为700nm～2500nm的范围内的近红外光向上述储藏部的内部照射。
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公开(公告)号：CN107917920B
公开(公告)日：2021-03-12
申请号：CN201710810603.1
申请日：2017-09-11
申请人： 株式会社东芝
IPC分类号： G01N21/956
摘要： 实施例提供了一种能够正确地检测相邻地加载的物体的边缘的边缘检测设备、边缘检测方法以及物体保持设备。一种边缘检测设备，包括光源、成像部件和检测器。光源包括用于用光来照射相邻的多个物体的至少三个光发射部件。成像部件对每个光发射部件所照射的物体的表面进行成像，并且生成表面的多个图像数据。检测器基于多个图像数据的至少两个不同组合来检测被成像的表面的边缘。
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公开(公告)号：CN118687505A
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202311433930.1
申请日：2023-10-31
申请人： 株式会社东芝
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 本实施方式提供一种光学检查方法以及存储介质、以及光学检查装置，光学检查方法具备：将明暗周期性地变化的第1基本调制模式的第1图案光投影于物体；对投影有第1图案光的物体进行摄像而获取第1图像；将明暗相对于第1基本调制模式反转的第1反转调制模式的第2图案光投影于物体；对投影有第2图案光的物体进行摄像而获取第2图像；以及生成至少基于第1图像和第2图像抽取的强调了进行特异的光散射的特异区域的特异光散射图像。
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公开(公告)号：CN116818657A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202211060742.4
申请日：2022-08-31
申请人： 株式会社东芝
摘要： 本公开涉及光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置。提供一种获取物体表面的信息的光学检查方法。在实施方式的光学检查方法中，使用通过了选择性地使来自物体表面的互不相同的多个预定波长的光通过的波长选择部的光，用具有区分地接收多个预定波长的光的颜色通道的图像传感器进行摄像以获取图像，进行推定在图像的各像素接收到光的颜色通道的通道数量作为颜色数量的颜色数量推定处理，基于颜色数量，进行识别来自物体表面的散射光分布(BRDF)的散射光分布识别处理或者识别物体表面的状态的表面状态识别处理中的至少一方的处理。
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公开(公告)号：CN107616006A
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201710504989.3
申请日：2017-06-28
申请人： 株式会社东芝 , 东芝生活电器株式会社
摘要： 本发明提供能够有效地照射近红外光储藏库及近红外光照射单元。实施方式的储藏库具有储藏库主体和近红外光照射部。上述储藏库主体，具有能够储藏植物的储藏部。上述近红外光照射部具有朝向上述储藏部的内部的至少一部分区域改变光的配光角的光配光部，将中心波长为700nm～2500nm的范围内的近红外光向上述储藏部的内部照射。
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公开(公告)号：CN117740774A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202310184570.X
申请日：2023-02-28
申请人： 株式会社东芝
摘要： 本公开的实施方式涉及光学检查装置、光学检查系统、光学检查方法以及存储介质。提供能够取得包括曲面等的物体表面的信息的光学检查装置。根据实施方式，光学检查装置的照明部对物体的表面的第1物点照射第1照明光，对物体的表面的第2物点照射第2照明光。波长选择部配置于拍摄部与物体的表面之间，使不同的波长频谱的光选择性地通过。拍摄部通过波长选择部对来自第1物点的光进行拍摄，通过波长选择部对来自第2物点的光进行拍摄。
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公开(公告)号：CN116137888A
公开(公告)日：2023-05-19
申请号：CN202180052432.5
申请日：2021-09-16
申请人： 株式会社东芝
IPC分类号： G01B11/25
摘要： 光学装置(1A)具备作为面发光光源的光源(10)、光选择部(30)、摄像部(40)以及导出部(52B)。光选择部(30)将从光源(10)照射的光线(R)分光为互不相同的波长区域的多个分光光线(L)。摄像部(40)对被照射多个分光光线(L)的被检体(B)进行摄像来获取分光图像。导出部(52B)根据在分光图像中获取到的多个分光光线(L)中的针对至少两个不同的波长区域的受光强度的相互的大小关系，从推测出被检体(B)中的多个分光光线(L)各自的照射区域(E)的推测结果导出被检体(B)的表面性状或者形状信息。
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公开(公告)号：CN115809978A
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202210170165.8
申请日：2022-02-24
申请人： 株式会社东芝 , 东芝数字解决方案株式会社
摘要： 本发明的实施方式涉及光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置。提供能够检查被检物的表面状态的光学检查方法、光学检查程序、处理装置以及光学检查装置。根据实施方式，被检物的表面状态的光学检查方法包括：通过使用使来自被检物的表面的相互不同的多个波长选择性地通过的波长选择部的光学上的成像，在与影像传感器的各像素的多个颜色通道的数量相同或者比该数量更少的n维的颜色坐标系中取得与该波长对应的颜色的颜色向量；以及根据颜色坐标系中的颜色向量的方向，判别被检物的表面状态。
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公开(公告)号：CN115753781A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202210174971.2
申请日：2022-02-25
申请人： 株式会社东芝
摘要： 本发明涉及处理装置、检查系统、处理方法以及存储介质。提供能迅检查速被检体的表面中成为检查对象的范围的处理装置、检查系统、处理方法以及存储介质。本发明提供与使用拍摄部的被检体检查关联的处理装置。处理装置的处理器基于由点群表示被检体的表面的形状且利用点群规定被检体的表面中的位置以及有关法线矢量的信息的形状数据，计算多个拍摄点来作为对被检体进行拍摄的位置。处理器对经过计算出的所有多个拍摄点且使自多个拍摄点的每一个起至成为下一个移动目的地的拍摄点为止的移动成本的总和最小化的路径进行解析，计算与解析结果对应的路径来作为使拍摄部移动的路径。
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