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公开(公告)号:CN116801993A
公开(公告)日:2023-09-22
申请号:CN202180092062.8
申请日:2021-11-25
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: B07C5/342
Abstract: 光学式分选机具备:光源;光学传感器,其构成为对与被分选物相关联的光进行检测;检测部,其构成为基于由光学传感器取得的信号对被分选物的不合格部分进行检测;分选部,其构成为朝向不合格部分喷射空气,来分选具有不合格部分的被分选物;以及喷射控制部,其构成为对空气的喷射进行控制。喷射控制部构成为执行喷射范围控制,在该喷射范围控制中,在不合格部分的尺寸的值为第1值时,向相对于被分选物的第1喷射范围喷射空气,在满足规定条件时,向相对于被分选物的第2喷射范围喷射空气。第2喷射范围比第1喷射范围宽。规定条件包含尺寸的值是小于第1值的第2值。
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公开(公告)号:CN116368373A
公开(公告)日:2023-06-30
申请号:CN202180069876.X
申请日:2021-10-12
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
Abstract: 光学式分选机具备:光源,其构成为向在移送路径上移送中的被分选物照射光;光学传感器,其构成为对从光源被照射并和被分选物关联的光进行检测;判定部,其构成为基于与和被分选物关联的光相关并由光学传感器获取的信号,对关于被分选物的异物及/或不合格品进行判定;以及中间构件,其配置在从光源向被分选物的光的照射方向上的光源与移送路径之间的位置,且配置在不影响和被分选物关联的光的检测的位置,并具有标记。光学传感器进一步构成为对从光源被照射并经由标记而得到的标记关联光进行检测。
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公开(公告)号:CN116018216A
公开(公告)日:2023-04-25
申请号:CN202180055512.6
申请日:2021-08-23
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: B07C5/342
Abstract: 本发明涉及一种光学式分选机。光学式分选机具备:构成为对在移送路径上移送中的被分选物照射光的光源;构成为检测从光源照射、且与被分选物相关联的光的光学传感器;构成为根据由光学传感器针对与被分选物相关联的光而取得的信号,进行针对被分选物的异物和/或不合格品的判定的判定部;以及配置在从光源向被分选物的光的照射方向上的光源与移送路径之间的位置且不影响与被分选物相关联的光的检测的位置的至少一个中间部件,且是具有反射从光源照射的光的反射区域的至少一个中间部件。光学传感器还构成为检测从光源照射、且由反射区域反射的光。
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公开(公告)号:CN115004016A
公开(公告)日:2022-09-02
申请号:CN202180010708.3
申请日:2021-01-22
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85 , B07C5/342 , G01N21/3563 , G01N21/359
Abstract: 本发明的特征在于,对由移送单元移送的粒状物进行光学检查的检查部具有可见光源、近红外光源、可见光检测部以及近红外光检测部,判定部针对多个合格品样品以及不合格品样品,将分别由可见光检测部检测出的红(R)、绿(G)、蓝(B)的波长成分、和由近红外光检测部检测出的近红外光成分绘制于三维空间来生成三维光学相关图,并设定阈值。
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公开(公告)号:CN114829025A
公开(公告)日:2022-07-29
申请号:CN202080087328.5
申请日:2020-12-14
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 光学式分选机具备:第一光源,配置于第一侧;第二光源,配置于第二侧;光学传感器,构成为在包含第一扫描期间和第二扫描期间在内的多个扫描期间检测光;判定部,构成为进行异物以及/或者不合格品的判定;光源控制部。光源控制部构成为在第一扫描期间以按第一点亮模式点亮的方式控制第一光源以及第二光源,该第一点亮模式是从第一光源和第二光源点亮的点亮模式、仅第一光源和第二光源中的一者点亮的点亮模式、仅第一光源和第二光源中的另一者点亮的点亮模式中任意选择的点亮模式;并且光源控制部构成为在第二扫描期间以按第二点亮模式点亮的方式控制第一光源以及第二光源,该第二点亮模式是任意选择的除第一点亮模式之外的点亮模式。
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公开(公告)号:CN114829025B
公开(公告)日:2025-04-29
申请号:CN202080087328.5
申请日:2020-12-14
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 光学式分选机具备:第一光源,配置于第一侧;第二光源,配置于第二侧;光学传感器,构成为在包含第一扫描期间和第二扫描期间在内的多个扫描期间检测光;判定部,构成为进行异物以及/或者不合格品的判定;光源控制部。光源控制部构成为在第一扫描期间以按第一点亮模式点亮的方式控制第一光源以及第二光源,该第一点亮模式是从第一光源和第二光源点亮的点亮模式、仅第一光源和第二光源中的一者点亮的点亮模式、仅第一光源和第二光源中的另一者点亮的点亮模式中任意选择的点亮模式;并且光源控制部构成为在第二扫描期间以按第二点亮模式点亮的方式控制第一光源以及第二光源,该第二点亮模式是任意选择的除第一点亮模式之外的点亮模式。
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公开(公告)号:CN114286725B
公开(公告)日:2023-07-14
申请号:CN202080059799.5
申请日:2020-04-13
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 本发明提供光学式粒状物分选机,其能减少卷入而吹走合格品的比例,并且即使在多个不合格品等以重叠的状态落下的情况下,也能吹走所有的不合格品等。具备基于光学检测部的检测结果来控制来自喷风部的压缩气体的喷射时间的控制部,控制部具有将光学检测部检测被分选物的缺陷检测时间与事先设定的单粒通过设定时间进行比较的比较部、以及基于比较部的比较结果对缺陷检测时间乘以预定的系数来计算喷射时间的计算部,在比较部的比较结果为缺陷检测时间为单粒通过设定时间以下的情况下,计算部对缺陷检测时间乘以与缺陷检测时间超过单粒通过设定时间的情况相比较小的系数来计算喷射时间,并基于该计算结果来控制来自喷风部的压缩气体的喷射时间。
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公开(公告)号:CN114286725A
公开(公告)日:2022-04-05
申请号:CN202080059799.5
申请日:2020-04-13
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 本发明提供光学式粒状物分选机,其能减少卷入而吹走合格品的比例,并且即使在多个不合格品等以重叠的状态落下的情况下,也能吹走所有的不合格品等。具备基于光学检测部的检测结果来控制来自喷风部的压缩气体的喷射时间的控制部,控制部具有将光学检测部检测被分选物的缺陷检测时间与事先设定的单粒通过设定时间进行比较的比较部、以及基于比较部的比较结果对缺陷检测时间乘以预定的系数来计算喷射时间的计算部,在比较部的比较结果为缺陷检测时间为单粒通过设定时间以下的情况下,计算部对缺陷检测时间乘以与缺陷检测时间超过单粒通过设定时间的情况相比较小的系数来计算喷射时间,并基于该计算结果来控制来自喷风部的压缩气体的喷射时间。
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