公开(公告)号：CN116134620A

公开(公告)日：2023-05-16

申请号：CN202180059488.3

申请日：2021-07-15

Applicant: 株式会社日本显示器 ,  国立大学法人东京大学

Inventor： 樋元健人 ,  中村卓 ,  染谷隆夫 ,  横田知之

IPC: H01L27/146

Abstract: 本申请公开了一种检测装置，是一种具有排列在基板之上的多个光传感器的检测装置，多个光传感器分别在与基板的表面垂直的方向上按照下部电极、电子输送层、有源层、空穴输送层、上部电极的顺序层叠，有源层包含有机半导体，空穴输送层包含氧化金属层，并且设置为在有源层之上接触。

公开(公告)号：CN115720452A

公开(公告)日：2023-02-28

申请号：CN202210999751.3

申请日：2022-08-19

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 樋元健人 ,  中村卓

IPC: H10K39/32 ,  G06V40/12 ,  G06V40/13

Abstract: 本发明提供能够提高检测灵敏度的检测装置。检测装置具有：基板；多个光电二极管，设置于基板，并具有有机半导体；多个晶体管，与多个光电二极管各自对应地设置，晶体管包括半导体层、栅极电极以及源极电极；多个下部电极，与多个光电二极管各自对应地设置，下部电极在与基板垂直的方向上设置于晶体管与光电二极管之间；上部电极，跨多个光电二极管而设置；第一辅助电容电极，在与基板垂直的方向上设置于基板与光电二极管之间；以及第二辅助电容电极，设置于与半导体层或者源极电极相同的层，并隔着绝缘膜与第一辅助电容电极对置。

公开(公告)号：CN115719754A

公开(公告)日：2023-02-28

申请号：CN202211000712.4

申请日：2022-08-19

Applicant: 株式会社日本显示器

Inventor： 樋元健人 ,  中村卓

IPC: H01L27/146 ,  H10K39/32 ,  G06V40/12 ,  G06V40/13

Abstract: 本申请提供了一种能够提高光的利用效率的检测装置。检测装置具有：基板；多个光电二极管，设于基板；多个晶体管，与多个光电二极管分别相对应地设置；多条栅极线，沿第一方向延伸；多条信号线，沿与第一方向交叉的第二方向延伸；多个下部电极，在与基板垂直的方向上设于晶体管与光电二极管之间，与多个光电二极管分别相对应地设置；上部电极，跨越多个光电二极管而设置；以及反射层，在与基板垂直的方向上设于基板与光电二极管之间，下部电极具有比由多条栅极线和多条信号线划分出的区域小的面积，反射层在俯视时设于相邻的下部电极之间。