公开(公告)号：CN106798565B

公开(公告)日：2021-08-24

申请号：CN201611048826.0

申请日：2016-11-23

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 实政光久 ,  宫本高敬 ,  足立龙太郎 ,  川上嘉人

IPC: A61B6/00

Abstract: 本发明涉及一种X射线测定装置。从X射线照射器(30)对多个检测元件(32a)照射扇束形状的X射线。根据各检测元件(32a)检测出的各检测数据即X射线的衰减量来计算各被检测体部分(22a)的面密度。另外，根据各检测数据计算各被检测体部分(22a)的体厚。根据计算出的体厚在各被检测体部分(22a)的体厚方向的中心位置定义虚拟测定面。将各被检测体部分(22a)的面密度与在各被检测体部分(22a)中定义的各虚拟测定面的面积相乘，计算表示各被检测体部分(22a)的质量的多个元件单位质量。通过合计多个元件单位质量来计算被检测体(22)的质量。

公开(公告)号：CN106798565A

公开(公告)日：2017-06-06

申请号：CN201611048826.0

申请日：2016-11-23

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 实政光久 ,  宫本高敬 ,  足立龙太郎 ,  川上嘉人

IPC: A61B6/00

CPC classification number: A61B6/00 ,  A61B6/4078 ,  A61B6/4208 ,  A61B6/44 ,  A61B6/505 ,  A61B6/582

Abstract: 本发明涉及一种X射线测定装置。从X射线照射器(30)对多个检测元件(32a)照射扇束形状的X射线。根据各检测元件(32a)检测出的各检测数据即X射线的衰减量来计算各被检测体部分(22a)的面密度。另外，根据各检测数据计算各被检测体部分(22a)的体厚。根据计算出的体厚在各被检测体部分(22a)的体厚方向的中心位置定义虚拟测定面。将各被检测体部分(22a)的面密度与在各被检测体部分(22a)中定义的各虚拟测定面的面积相乘，计算表示各被检测体部分(22a)的质量的多个元件单位质量。通过合计多个元件单位质量来计算被检测体(22)的质量。