公开(公告)号：CN107106140B

公开(公告)日：2019-11-29

申请号：CN201580070108.0

申请日：2015-11-27

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 西元琢真 ,  五十岚丰 ,  胜部勇作

IPC: B06B1/02 ,  A61B8/00

Abstract: 本发明提供一种超声波探头，能够抑制超声波探头的尺寸以及电路尺寸，同时能够调整压摆率。该超声波探头具有：振子；发送电路，其由振子驱动部和电流源构成，该振子驱动部由低压晶体管和高压晶体管的电流镜组成，上述高压晶体管与上述振子连接，该电流源将工作电流提供给上述振子驱动部的低压晶体管；校正部，其由发送电路驱动部复制品、偏置部以及观测部构成，上述发送电路驱动部复制品的结构与上述振子驱动部相同，上述偏置部使流过上述发送电路驱动部复制品的低压晶体管和高压晶体管的电流的合计为固定，上述观测部将流过上述发送电路驱动部复制品的低压晶体管的电流复制后取出；以及分配部，其将信号转给上述发送电路的电流源使得流过与上述观测部所取出的电流值相同的电流值。

公开(公告)号：CN106416069A

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201480079034.2

申请日：2014-06-06

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 西元琢真 ,  五十岚丰 ,  胜部勇作 ,  今川健吾

IPC: H03K4/94 ,  A61B8/00

CPC classification number: A61B8/4461 ,  A61B8/00 ,  A61B8/461 ,  A61B8/467 ,  A61B8/54 ,  A61B8/56 ,  H03K3/012 ,  H03K4/94 ,  H03K5/003 ,  H03K5/159 ,  H03K19/017509

Abstract: 通过小的电路尺寸来放大信号以及谋求消耗功率的降低。电流控制电流源部(53)基于过渡时间设定信号tp来使输出的电流变化。电流控制电流源部(54)基于过渡时间设定信号tn来使引入的电流变化。振幅控制部(55)基于振幅设定信号ap来使向电流控制电流源部(53)供给的电源电压变化，从而使通过从电流控制电流源部(53)输出的电流而产生的电压的振幅变化。振幅控制部(56)基于振幅设定信号an来使向电流控制电流源部(54)供给的电源电压变化，从而使通过电流控制电流源部(54)所引入的电流而产生的电压的振幅变化。缓冲部(57)与从电流控制电流源部(53)输出的电流以及从电流控制电流源部(54)引入的电流对应地来驱动负载。

公开(公告)号：CN107405131A

公开(公告)日：2017-11-28

申请号：CN201680013991.4

申请日：2016-02-25

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 梶山新也 ,  五十岚丰 ,  胜部勇作 ,  西元琢真

IPC: A61B8/00

Abstract: 本发明的目的在于，能够不与连接到振子的多个端子进行电接触，低成本并且不超过耐压地实现用于筛选IC内收发电路的缺陷的测试。在将晶体管设为开关元件的收发分离开关电路中，在测试时通过将栅极的电位降至比接收时更低，避免大振幅信号输入时超过栅极-源极间耐压，不破坏接收电路地进行内部信号回送测试。

公开(公告)号：CN107106140A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580070108.0

申请日：2015-11-27

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 西元琢真 ,  五十岚丰 ,  胜部勇作

IPC: A61B8/14 ,  G01N29/24

Abstract: 本发明提供一种超声波探头，能够抑制超声波探头的尺寸以及电路尺寸，同时能够调整压摆率。该超声波探头具有：振子；发送电路，其由振子驱动部和电流源构成，该振子驱动部由低压晶体管和高压晶体管的电流镜组成，上述高压晶体管与上述振子连接，该电流源将工作电流提供给上述振子驱动部的低压晶体管；校正部，其由发送电路驱动部复制品、偏置部以及观测部构成，上述发送电路驱动部复制品的结构与上述振子驱动部相同，上述偏置部使流过上述发送电路驱动部复制品的低压晶体管和高压晶体管的电流的合计为固定，上述观测部将流过上述发送电路驱动部复制品的低压晶体管的电流复制后取出；以及分配部，其将信号转给上述发送电路的电流源使得流过与上述观测部所取出的电流值相同的电流值。

公开(公告)号：CN107405131B

公开(公告)日：2020-04-07

申请号：CN201680013991.4

申请日：2016-02-25

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 梶山新也 ,  五十岚丰 ,  胜部勇作 ,  西元琢真

IPC: A61B8/00

Abstract: 本发明的目的在于，能够不与连接到振子的多个端子进行电接触，低成本并且不超过耐压地实现用于筛选IC内收发电路的缺陷的测试。在将晶体管设为开关元件的收发分离开关电路中，在测试时通过将栅极的电位降至比接收时更低，避免大振幅信号输入时超过栅极‑源极间耐压，不破坏接收电路地进行内部信号回送测试。

公开(公告)号：CN110958857A

公开(公告)日：2020-04-03

申请号：CN201880049016.8

申请日：2018-09-28

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 矢崎彻 ,  西元琢真

IPC: A61B8/00

Abstract: 提供一种超声波诊断装置，振子的驱动电流相对于半导体工艺偏差成为恒定。超声波诊断装置具备振子、生成驱动信号的驱动信号生成部及输出与所述驱动信号相应的驱动电流且驱动所述振子的发送电路，所述发送电路通过由低电压晶体管和高电压晶体管的电流镜构成且在所述振子连接所述高电压晶体管的振子驱动部、及向所述振子驱动部的低电压晶体管供给与所述驱动信号相应的动作电流的电流源构成，所述驱动信号生成部具备与所述振子驱动部相同结构的发送电路驱动部复本及检测向所述发送电路驱动部复本的高电压晶体管流动的电流且将所述电流控制为恒定的反馈控制部，将从所述反馈控制部施加到向所述发送电路驱动部复本的低电压晶体管供给动作电流的电流源的信号作为所述驱动信号而供给到向所述振子驱动部的低电压晶体管供给动作电流的电流源。